Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu

108390 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania

  • Data publikacji: Array

Zmodyfikuj swoje zapytanie

Produkty 46301 do 46350 z 108390

na stronę
Strona:
  2. 1
  3. ...
  4. 923
  5. 924
  6. 925
  7. 926
  8. 927
  9. 928
  10. 929
  11. 930
  12. 931
  13. 932
  14. ...
  15. 2168

Ustaw kierunek malejący
  1. PN-EN 60749-14:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-14:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 14: Wytrzymałość wyprowadzeń (spójność końcówek)

    Wprowadza: EN 60749-14:2003 [IDT], IEC 60749-14:2003 [IDT]

  2. PN-EN 60749-15:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-15:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-15:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów montowanych w otworze przelotowym

    Wprowadza: EN 60749-15:2003 [IDT], IEC 60749-15:2003 [IDT]

  3. PN-EN 60749-15:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-15:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-15:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów do montażu przewlekanego

    Wprowadza: EN 60749-15:2003 [IDT], IEC 60749-15:2003 [IDT]

  4. PN-EN 60749-15:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-15:2011 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-15:2021-04 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów do montażu przewlekanego

    Wprowadza: EN 60749-15:2010 [IDT], IEC 60749-15:2010 [IDT]

  5. PN-EN 60749-16:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-16:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 16: Wykrywanie swobodnych ciał obcych za pomocą badania hałasu (PIND)

    Wprowadza: EN 60749-16:2003 [IDT], IEC 60749-16:2003 [IDT]

  6. PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 16: Detekcja szmerów spowodowanych uderzeniami cząstek (PIND)

    Wprowadza: EN 60749-16:2003 [IDT], IEC 60749-16:2003 [IDT]

  7. PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromieniowanie neutronowe

    Wprowadza: EN 60749-17:2003 [IDT], IEC 60749-17:2003 [IDT]

  8. PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-17:2019-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromienienie neutronami

    Wprowadza: EN 60749-17:2003 [IDT], IEC 60749-17:2003 [IDT]

  9. PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (całkowita dawka)

    Wprowadza: EN 60749-18:2003 [IDT], IEC 60749-18:2002 [IDT]

  10. PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-18:2019-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (dawka całkowita)

    Wprowadza: EN 60749-18:2003 [IDT], IEC 60749-18:2002 [IDT]

  11. PN-EN 60749-19:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-19:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie

    Wprowadza: EN 60749-19:2003 [IDT], IEC 60749-19:2003 [IDT]

  12. PN-EN 60749-19:2005/A1:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-19:2005/A1:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktury na ścinanie

    Wprowadza: EN 60749-19:2003/A1:2010 [IDT], IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 [IDT]

  13. PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktury na ścinanie

    Wprowadza: EN 60749-19:2003 [IDT], EN 60749-19:2003/corrigendum Jun. 2003 [IDT], IEC 60749-19:2003 [IDT]

  14. PN-EN 60749-1:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-1:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-1:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 1: Postanowienia ogólne

    Wprowadza: EN 60749-1:2003 [IDT], IEC 60749-1:2002 [IDT]

  15. PN-EN 60749-1:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-1:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 1: Postanowienia ogólne

    Wprowadza: EN 60749-1:2003 [IDT], IEC 60749-1:2002 [IDT]

  16. PN-EN 60749-20-1:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-20-1:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20- 1: Manipulowanie, pakowanie, znakowanie i transport przyrządów do montażu powierzchniowego, wrażliwych na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20-1:2009 [IDT], IEC 60749-20-1:2009 [IDT]

  17. PN-EN 60749-20:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-20:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-20:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Odporność przyrządów w obudowach plastikowych przeznaczonych do montażu powierzchniowego (SMD) na warunki mieszane wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20:2003 [IDT], IEC 60749-20:2002 [IDT]

  18. PN-EN 60749-20:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-20:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-20:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Wytrzymałość przyrządów do montażu powierzchniowego, hermetyzowanych tworzywem sztucznym, na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20:2003 [IDT], IEC 60749-20:2002 [IDT]

  19. PN-EN 60749-20:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-20:2010 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-20:2021-06 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Wytrzymałość przyrządów do montażu powierzchniowego, hermetyzowanych tworzywem sztucznym, na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20:2009 [IDT], IEC 60749-20:2008 [IDT]

  20. PN-EN 60749-21:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60749-21:2005 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

    Wprowadza: EN 60749-21:2005 [IDT], IEC 60749-21:2004 [IDT]

  21. PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska

    PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

    Wprowadza: EN 60749-21:2005 [IDT], IEC 60749-21:2004 [IDT]

  22. PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

    Wprowadza: EN 60749-21:2011 [IDT], IEC 60749-21:2011 [IDT]

  23. PN-EN 60749-22:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-22:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-22:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 22: Wytrzymałość połączeń

    Wprowadza: EN 60749-22:2003 [IDT], IEC 60749-22:2002 [IDT]

  24. PN-EN 60749-22:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-22:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 22: Wytrzymałość połączeń

    Wprowadza: EN 60749-22:2003 [IDT], IEC 60749-22:2002 [IDT]

  25. PN-EN 60749-23:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60749-23:2005 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Trwałość w wysokiej temperaturze

    Wprowadza: EN 60749-23:2004 [IDT], IEC 60749-23:2004 [IDT]

  26. PN-EN 60749-23:2006/A1:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-23:2006/A1:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze

    Wprowadza: EN 60749-23:2004/A1:2011 [IDT], IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 [IDT]

  27. PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze

    Wprowadza: EN 60749-23:2004 [IDT], IEC 60749-23:2004 [IDT]

  28. PN-EN 60749-24:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60749-24:2005 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-24:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 24: Wytrzymałość na przyspieszoną wilgotność - badanie silnie przyspieszone bez obciążenia (HAST)

    Wprowadza: EN 60749-24:2004 [IDT], IEC 60749-24:2004 [IDT]

  29. PN-EN 60749-24:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-24:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 24: Przyspieszone badanie wytrzymałości na wilgoć -- HAST bez polaryzacji

    Wprowadza: EN 60749-24:2004 [IDT], IEC 60749-24:2004 [IDT]

  30. PN-EN 60749-25:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-25:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykliczne zmiany temperatury

    Wprowadza: EN 60749-25:2003 [IDT], IEC 60749-25:2003 [IDT]

  31. PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykle temperaturowe

    Wprowadza: EN 60749-25:2003 [IDT], IEC 60749-25:2003 [IDT]

  32. PN-EN 60749-26:2006 - wersja angielska

    PN-EN 60749-26:2006 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-26:2008 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)

    Wprowadza: EN 60749-26:2006 [IDT], IEC 60749-26:2006 [IDT]

  33. PN-EN 60749-26:2008 - wersja polska

    PN-EN 60749-26:2008 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-26:2014-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)

    Wprowadza: EN 60749-26:2006 [IDT], IEC 60749-26:2006 [IDT]

  34. PN-EN 60749-26:2014-11 - wersja angielska

    PN-EN 60749-26:2014-11 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-26:2018-08 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)

    Wprowadza: EN 60749-26:2014 [IDT], IEC 60749-26:2013 [IDT]

  35. PN-EN 60749-27:2006 - wersja angielska

    PN-EN 60749-27:2006 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-27:2008 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 27: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model maszyny (MM)

    Wprowadza: EN 60749-27:2006 [IDT], IEC 60749-27:2006 [IDT]

  36. PN-EN 60749-27:2008/A1:2013-06 - wersja angielska

    PN-EN 60749-27:2008/A1:2013-06 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 27: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model maszyny (MM)

    Wprowadza: EN 60749-27:2006/A1:2012 [IDT], IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 [IDT]

  37. PN-EN 60749-27:2008 - wersja polska

    PN-EN 60749-27:2008 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 27: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model maszyny (MM)

    Wprowadza: EN 60749-27:2006 [IDT], IEC 60749-27:2006 [IDT]

  38. PN-EN 60749-28:2017-10 - wersja angielska

    PN-EN 60749-28:2017-10 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-28:2022-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 28: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model urządzenia ładowanego (CDM) -- poziom urządzenia

    Wprowadza: EN 60749-28:2017 [IDT], IEC 60749-28:2017 [IDT]

  39. PN-EN 60749-29:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-29:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie przerzutników

    Wprowadza: EN 60749-29:2003 [IDT], IEC 60749-29:2003 [IDT]

  40. PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie stanu zatrzaśnięcia

    Wprowadza: EN 60749-29:2003 [IDT], EN 60749-29:2003/corrigendum Mar. 2004 [IDT], IEC 60749-29:2003 [IDT]

  41. PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie stanu zatrzaśnięcia

    Wprowadza: EN 60749-29:2011 [IDT], IEC 60749-29:2011 [IDT]

  42. PN-EN 60749-2:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-2:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-2:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 2: Niskie ciśnienie

    Wprowadza: EN 60749-2:2002 [IDT], IEC 60749-2:2002 [IDT]

  43. PN-EN 60749-2:2004 - wersja polska

    PN-EN 60749-2:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 2: Niskie ciśnienie atmosferyczne

    Wprowadza: EN 60749-2:2002 [IDT], IEC 60749-2:2002 [IDT]

  44. PN-EN 60749-30:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60749-30:2005 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Przygotowanie niehermetyzowanych przyrządów do montażu powierzchniowego do badań niezawodności

    Wprowadza: EN 60749-30:2005 [IDT], IEC 60749-30:2005 [IDT]

  45. PN-EN 60749-30:2007/A1:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-30:2007/A1:2011 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności

    Wprowadza: EN 60749-30:2005/A1:2011 [IDT], IEC 60749-30:2005/AMD1:2011 [IDT]

  46. PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska

    PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności

    Wprowadza: EN 60749-30:2005 [IDT], IEC 60749-30:2005 [IDT]

  47. PN-EN 60749-31:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-31:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-31:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 31: Łatwopalność przyrządów w obudowach plastikowych (od przegrzania wewnątrz obudowy)

    Wprowadza: EN 60749-31:2003 [IDT], IEC 60749-31:2002 [IDT]

  48. PN-EN 60749-31:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-31:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 31: Palność przyrządów w obudowach z tworzyw sztucznych (zapalenie od wewnątrz)

    Wprowadza: EN 60749-31:2003 [IDT], IEC 60749-31:2002 [IDT]

  49. PN-EN 60749-32:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-32:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-32:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 32: Łatwopalność przyrządów w obudowach plastikowych (od przegrzania z zewnątrz obudowy)

    Wprowadza: EN 60749-32:2003 [IDT], IEC 60749-32:2002 [IDT]

  50. PN-EN 60749-32:2005/A1:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-32:2005/A1:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 32: Palność przyrządów w obudowach z tworzyw sztucznych (zapalenie z zewnątrz)

    Wprowadza: EN 60749-32:2003/A1:2010 [IDT], IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 [IDT]

Produkty 46301 do 46350 z 108390

na stronę
Strona:
  2. 1
  3. ...
  4. 923
  5. 924
  6. 925
  7. 926
  8. 927
  9. 928
  10. 929
  11. 930
  12. 931
  13. 932
  14. ...
  15. 2168

Ustaw kierunek malejący
Mój koszyk

Nie masz produktów w koszyku.

 

Pomóż nam utrzymać Magento w dobrej kondycji - Zgłaszaj wszystkie błędy

© 2012 Polski Komitet Normalizacyjny. All Rights Reserved.