PN-EN IEC 60749-17:2019-11 - wersja angielska

Napromienienie neutronami jest testem przeprowadzanym w celu określenia podatności przyrządów półprzewodnikowych na degradację wywołaną energią niejonizującą (NIEL). Badanie tu opisane ma zastosowanie do układów scalonych oraz dyskretnych przyrządów półprzewodnikowych i jest przeznaczone do aplikacji wojskowych i kosmicznych. Badanie to jest badaniem niszczącym.
Cele badania są następujące:
a) wykrycie i pomiar stopnia pogorszenia istotnych parametrów przyrządu półprzewodnikowego w zależności od strumienia neutronów oraz
b) stwierdzenie, czy określone parametry przyrządu półprzewodnikowego mieszczą się w określonym zakresie po napromienieniu strumieniem neutronów o zadanej wartości (patrz Rozdział 6).