PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-17:2019-11 - wersja angielska

Bez VAT: 65,00  PLN Z VAT: 79,95  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromienienie neutronami

Zakres

Podano sposób określenia podatności przyrządów półprzewodnikowych na degradację w środowisku neutronowym. Badania opisane w tej części normy mają zastosowanie do układów scalonych i dyskretnych przyrządów półprzewodnikowych

* wymagane pola

Bez VAT: 65,00  PLN Z VAT: 79,95  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromienienie neutronami
Data publikacji 12-12-2005
Data wycofania 19-11-2019
Liczba stron 7
Grupa cenowa D
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-17:2003 [IDT], IEC 60749-17:2003 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-17:2019-11 - wersja angielska