PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromieniowanie neutronowe

Zakres

Służy do określania wrażliwości przyrządów półprzewodnikowych na degradację w środowisku neutronowym. Stosuje się do układów scalonych i przyrządów półprzewodnikowych dyskretnych

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromieniowanie neutronowe
Data publikacji 15-12-2003
Data wycofania 12-12-2005
Liczba stron 18
Grupa cenowa J
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-17:2003 [IDT], IEC 60749-17:2003 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska