Strona główna /
PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska

PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielska

Bez VAT: 65,00 PLN Z VAT: 79,95 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowania

Zakres

Celem niniejszej normy jest zbadanie i zweryfikowanie, czy oznakowanie na przyrządach półprzewodnikowych nie stanie się nieczytelne po działaniu rozpuszczalników lub roztworów czyszczących, zwykle stosowanych podczas usuwania pozostałości topników lutowia z płytek drukowanych po procesie montażu. Badanie jest stosowane do wszystkich typów obudów. Zaleca się traktowanie badania jako nieniszczącego

* Forma udostępnienia: Plik - 65,00 PLN

Papier - 65,00 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 13,60 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 65,00 PLN Z VAT: 79,95 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowania
Data publikacji	27-08-2004
Data wycofania	09-10-2017
Liczba stron	8
Grupa cenowa	D
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-9:2002 [IDT], IEC 60749-9:2002 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-9:2003 - wersja angielska
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielska