PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielska
Bez VAT:
117,00 PLN
Z VAT:
143,91 PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowania
Zakres
Celem tej części IEC 60749 jest ustalenie, czy cechy na monolitycznych przyrządach półprzewodnikowych pozostaną czytelne podczas narażenia na przyklejenie i usunięcie etykiet lub użycie rozpuszczalników i roztworów czyszczących zwykle używanych podczas usunięcia pozostałości stopu lutowniczego z procesu produkcyjnego płytki obwodu drukowanego. Badanie jest stosowane do wszystkich typów obudów. Nadaje się do wykorzystania w kwalifikacji i/lub przeprowadzaniu badania kontrolnego procesu. Badanie jest uważane jako nieniszczące. Zwroty elektryczne lub mechaniczne mogą zostać użyte w celu tego badania.
UWAGA 1 Niniejsza procedura nie odnosi się do obudów cechowanych laserem.
Wiele dostępnych środków czyszczących, które mogłyby zostać użyte, jest albo nie wystarczająco aktywnych, zbyt rygorystycznych lub nawet niebezpiecznych dla ludzi, w bezpośrednim kontakcie lub kiedy gryzące dymy są wdychane.
UWAGA 2 Mieszanka środków czyszczących używanych w tej normie jest uważana za typową i reprezentatywną, o wymaganej mocy w odniesieniu do zwykłych warstw i oznakowań.
