PN-EN 60749-9:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowania

Zakres

Podano sposób badania i sprawdzenia, czy oznakowania na przyrządach półprzewodnikowych nie staną się nieczytelne pod wpływem rozpuszczalników lub roztworów czyszczących zwykle używanych w procesie montażu podczas usuwania resztek topnika lutowniczego z płytki drukowanej. To badanie ma zastosowanie do wszystkich typów obudów. Badanie uznaje się za nieniszczące

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-9:2003 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowania
Data publikacji 15-08-2003
Data wycofania 27-08-2004
Liczba stron 18
Grupa cenowa J
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-9:2002 [IDT], IEC 60749-9:2002 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska