PN-EN 60749-40:2012 - wersja angielska
Bez VAT:
158,60 PLN
Z VAT:
195,08 PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 40: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem czujnika tensometrycznego
Zakres
Niniejsza norma jest przeznaczona do oceny i porównania odporności na upadki zamontowanych powierzchniowo przyrządów półprzewodnikowych przeznaczonych do podręcznych wyrobów elektronicznych w warunkach przyśpieszenia testowego, gdy nadmierne wygięcie płytki drukowanej powoduje uszkodzenie wyrobu. Celem jest normalizacja metodologii badania, aby zapewnić powtarzalne wyniki prób na zrzucanie przyrzadów zamontowanych powierzchniowo podczas odtwarzania warunków uszkodzenia normalnie obserwowanych w badaniach na etapie produkcji
