PN-EN 60749-8:2004 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-8:2005 - wersja polska

Bez VAT: 232,40  PLN Z VAT: 285,85  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: Szczelność

Zakres

Niniejsza norma ma zastosowanie do przyrządów półprzewodnikowych (przyrządów dyskretnych i układów scalonych), podane badanie określa stopień nieszczelności przyrządu półprzewodnikowego

* wymagane pola

Bez VAT: 232,40  PLN Z VAT: 285,85  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-8:2004 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: Szczelność
Data publikacji 15-06-2004
Data wycofania 31-08-2005
Liczba stron 41
Grupa cenowa S
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-8:2003 [IDT], IEC 60749-8:2002 [IDT], IEC 60749-8:2002/COR1:2003 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-8:2005 - wersja polska