PN-EN 60749-8:2005 - wersja polska

Bez VAT: 117,00 PLN Z VAT: 143,91 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: Szczelność

Zakres

Określono szybkość przecieku przyrządów półprzewodnikowych (przyrządów dyskretnych i układów scalonych) za pomocą badania szczelności obudów

* Forma udostępnienia: Plik - 117,00 PLN

Papier - 117,00 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 18,80 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00 PLN Z VAT: 143,91 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Numer	PN-EN 60749-8:2005 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: Szczelność
Data publikacji	31-08-2005
Liczba stron	17
Grupa cenowa	J
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-8:2003 [IDT], IEC 60749-8:2002 [IDT], IEC 60749-8:2002/COR1:2003 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-8:2004 - wersja angielska
ICS	31.080.01

Ostatnio oglądane produkty

Mój koszyk

Nie masz produktów w koszyku.