Strona główna /
PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska

PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

Bez VAT: 130,80 PLN Z VAT: 160,88 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

Zakres

Podano znormalizowaną procedurę określania lutowności wyprowadzeń obudów przyrządów przeznaczonych do łączenia z inną powierzchnią z zastosowaniem lutu cyna-ołów (SnPb) lub lutu bezołowiowego. Podano procedurę badania lutowności "zanurz i patrz" otworów przelotowych, podzespołów z końcówkami osiowymi i przyrządów do montażu powierzchniowego (SMD) jak również opcjonalną procedurę badania lutowności przyrządów SMD montowanych na płytce, symulującą proces lutowania stosowany w aplikacji przyrządów. Podano również opcjonalne warunki starzenia

* Forma udostępnienia: Plik - 130,80 PLN

Papier - 130,80 PLN

Czytelnia - 30 minut - 20,00 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 130,80 PLN Z VAT: 160,88 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność
Data publikacji	05-01-2007
Data wycofania	20-10-2011
Liczba stron	21
Grupa cenowa	L
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-21:2005 [IDT], IEC 60749-21:2004 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-21:2005 - wersja angielska
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska