Strona główna /
PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska

PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielska

Bez VAT: 103,50 PLN Z VAT: 127,31 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności

Zakres

Określono standardową procedurę wstępnego narażania niehermetycznych przyrządów półprzewodnikowych przeznaczonych do montażu powierzchniowego (SMD) przed badaniami nieuszkadzalności. Procedura ta jest zgodna z typową przemysłowa procedura wielokrotnego lutowania rozpływowego

* Forma udostępnienia: Plik - 103,50 PLN

Papier - 103,50 PLN

Czytelnia - 30 minut - 17,30 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 103,50 PLN Z VAT: 127,31 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności
Data publikacji	22-03-2007
Data wycofania	20-05-2021
Liczba stron	15
Grupa cenowa	H
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-30:2005 [IDT], IEC 60749-30:2005 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-30:2005 - wersja angielska
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielska
Elementy dodatkowe	PN-EN 60749-30:2007/A1:2011E