PN-EN 60749-19:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie

Zakres

Ustalono całość materiałów i procedur wykorzystywanych do mocowania struktur półprzewodnikowych w przepustach obudów lub na innych podłożach. Zasadniczo ma zastosowanie tylko do obudów wnękowych lub jako dokument kontrolny procesów przetwarzania

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-19:2003 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie
Data publikacji 15-12-2003
Data wycofania 30-12-2005
Liczba stron 18
Grupa cenowa J
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-19:2003 [IDT], IEC 60749-19:2003 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska