PN-EN 60749-2:2003 - wersja angielska

Podano opis badań przyrządów półprzewodnikowych w zakresie niskich ciśnień. Badanie ma na celu głównie określenie zdolności elementów i materiałów do uniknięcia uszkodzenia przez przebicie napięciem z powodu zmniejszenia wytrzymałości dielektrycznej powietrza i innych materiałów izolacyjnych przy obniżonych ciśnieniach. Badanie ma zastosowanie tylko do przyrządów, których napięcie pracy przekracza 1000 V. Ma ono zastosowanie do wszystkich przyrządów półprzewodnikowych, dostarczanych w typowych obudowach wnękowych. Przeznaczone jest dla celów wojskowych i do badań kosmicznych