Strona główna /
PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-18:2019-11 - wersja angielska

Bez VAT: 107,60 PLN Z VAT: 132,35 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (dawka całkowita)

Zakres

Podano procedurę określania wymagań dotyczących badań oddziaływania promieniowania jonizującego (dawka całkowita) z kobaltowego źródła promieniowania gamma-kobaltu-60 (60Co), na obudowane półprzewodnikowe układy scalone oraz przyrządy dyskretne. Opisano przyspieszone wygrzewanie dla oszacowania efektów oddziaływania na przyrządy promieniowania jonizującego o małej mocy dawki. Wygrzewanie jest ważne dla małej mocy dawki lub innych zastosowań, w których przyrządy mogą wykazywać istotne efekty zależne od czasu. Dotyczy zastosowań wojskowych i kosmicznych

* Forma udostępnienia: Plik - 107,60 PLN

Papier - 107,60 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 18,00 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 107,60 PLN Z VAT: 132,35 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (dawka całkowita)
Data publikacji	13-12-2005
Data wycofania	26-11-2019
Liczba stron	15
Grupa cenowa	H
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-18:2003 [IDT], IEC 60749-18:2002 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN IEC 60749-18:2019-11 - wersja angielska