PN-EN IEC 60749-18:2019-11 - wersja angielska

Niniejsza część IEC 60749 zawiera procedurę określania wymagań dotyczących badań oddziaływania promieniowania jonizującego (dawka całkowita) z kobaltowego źródła promieniowania gamma-kobaltu-60 (60Co), na obudowane półprzewodnikowe układy scalone oraz przyrządy dyskretne. Można stosować inne odpowiednie źródła promieniowania.
Procedura ta obejmuje cztery badania przedstawione poniżej:
a) badanie oddziaływania promieniowania w typowej temperaturze pokojowej
b) badanie oddziaływania promieniowania w podwyższonej temperaturze / kriogenicznej temperaturze
c) badanie przyspieszonego wygrzewania
d) badanie zwiększonej wrażliwości na niskie dawki (ang. ELDRS).
Badanie przyspieszonego wygrzewania ma na celu oszacowanie, jak istotny jest wpływ wielkości dawki promieniowania jonizującego na urządzenia przy niskich dawkach lub w zastosowaniach, w których urządzenia mogą przejawiać znaczące efekty zależne od czasu. Badanie ELDRS określa, czy urządzenia z liniowymi elementami bipolarnymi wykazują wrażliwość na uszkodzenia wywołane zwiększonym promieniowaniem przy niskich jego dawkach. Niniejszy dokument udostępnia badanie przy przyspieszonym wyżarzaniu do oszacowania wpływu niskiej dawki promieniowania jonizującego na urządzenia. Badanie to jest istotne przy niskich dawkach lub przy innych zastosowaniach, w których urządzenia mogą przejawiać znaczące efekty zależne od czasu. Niniejszy dokument odnosi się jedynie do promieniowania w stanie ustalonym i nie ma zastosowania do promieniowania impulsowego. Jest ona też przeznaczona do zastosowań wojskowych i kosmicznych. Badanie według tej normy może powodować silną degradację właściwości elektrycznych urządzeń poddawanych promieniowaniu i dlatego powinno być uznane za niszczące.