PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

Bez VAT: 73,80  PLN Z VAT: 90,77  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 16: Detekcja szmerów spowodowanych uderzeniami cząstek (PIND)

Zakres

Opisano badanie mające na celu wykrywanie obecności wewnątrz wnęki obudowy przyrządu cząstek nie związanych, takich jak odłamki ceramiki, kawałki drutów łączących lub kulki lutowia (stopione granulki)

* wymagane pola

Bez VAT: 73,80  PLN Z VAT: 90,77  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 16: Detekcja szmerów spowodowanych uderzeniami cząstek (PIND)
Data publikacji 24-10-2005
Liczba stron 9
Grupa cenowa E
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-16:2003 [IDT], IEC 60749-16:2003 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60749-16:2003 - wersja angielska
ICS 31.080.01