PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

Bez VAT: 188,80  PLN Z VAT: 232,22  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (całkowita dawka)

Zakres

Podano sposób postępowania dla określenia wymagań na badania półprzewodnikowych układów scalonych w obudowach i półprzewodnikowych elementów dyskretnych, dotyczące skutków promieniowania jonizującego gamma pochodzącego ze źródła promieniowania kobalt-60. Zaproponowano próbę gwałtownego wyżarzania, aby można było ocenić skutki działania dawki promieniowania jonizującego małej mocy na przyrządy. Omawiane badanie wyżarzaniem jest istotne dla dawki małej mocy lub pewnych innych zastosowań, dla których w przyrządach mogą występować z biegiem czasu znaczące skutki. Jest ono przeznaczone do zastosowań w technice wojskowej i w warunkach kosmicznych

* wymagane pola

Bez VAT: 188,80  PLN Z VAT: 232,22  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (całkowita dawka)
Data publikacji 15-12-2003
Data wycofania 13-12-2005
Liczba stron 34
Grupa cenowa Q
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-18:2003 [IDT], IEC 60749-18:2002 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska