PN-EN 60749-19:2005/A1:2010 - wersja angielska

Bez VAT: 43,80 PLN Z VAT: 53,87 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktury na ścinanie

Zakres

Wprowadzono dodatkowe warunki pomiaru wytrzymałości struktury na ścinanie w przypadku obudów wnękowych lub niewnękowych

* Forma udostępnienia: Plik - 43,80 PLN

Papier - 43,80 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 11,50 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 43,80 PLN Z VAT: 53,87 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Numer	PN-EN 60749-19:2005/A1:2010 - wersja angielska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktury na ścinanie
Data publikacji	15-12-2010
Liczba stron	4
Grupa cenowa	B
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-19:2003/A1:2010 [IDT], IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 [IDT]
ICS	31.080.01