PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

Bez VAT: 82,20  PLN Z VAT: 101,11  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze

Zakres

Niniejsze badanie stosuje się w celu określenia wpływu działania polaryzacji i temperatury w zadanym czasie na przyrządy półprzewodnikowe. Badanie to, w przyspieszony sposób, symuluje warunki działania przyrządu i jest głównie stosowane do kwalifikacji przyrządów i monitorowania nieuszkadzalności

* wymagane pola

Bez VAT: 82,20  PLN Z VAT: 101,11  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze
Data publikacji 27-07-2006
Liczba stron 11
Grupa cenowa F
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-23:2004 [IDT], IEC 60749-23:2004 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60749-23:2005 - wersja angielska
ICS 31.080.01
Elementy dodatkowe PN-EN 60749-23:2006/A1:2011E