Informacje dodatkowe
| Numer | PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska |
|---|---|
| Tytuł | Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze |
| Data publikacji | 27-07-2006 |
| Liczba stron | 11 |
| Grupa cenowa | F |
| Sektor | SEK, Sektor Elektroniki |
| Organ Techniczny | KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych |
| Wprowadza | EN 60749-23:2004 [IDT], IEC 60749-23:2004 [IDT] |
| Zastępuje | PN-EN 60749-23:2005 - wersja angielska |
| ICS | 31.080.01 |
| Elementy dodatkowe | PN-EN 60749-23:2006/A1:2011E |

