Strona główna /
PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska

PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska

Bez VAT: 90,50 PLN Z VAT: 111,32 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykle temperaturowe

Zakres

Podano procedury badania w celu określenia wytrzymałości przyrządów półprzewodnikowych, podzespołów i/lub zespołów płytek na narażenia mechaniczne wywołane przemiennymi, skrajnymi wartościami wysokiej i niskiej temperatury. Wskutek tych narażeń mogą pojawić się trwałe zmiany w parametrach elektrycznych i/lub fizycznych. W niniejszej metodzie badania stosuje się pojedyncze, podwójne i potrójne komory do cykli temperaturowych. Metoda obejmuje badania podzespołów i wewnętrznych połączeń lutowanych

* Forma udostępnienia: Plik - 90,50 PLN

Papier - 90,50 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 16,20 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 90,50 PLN Z VAT: 111,32 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykle temperaturowe
Data publikacji	27-01-2006
Liczba stron	14
Grupa cenowa	G
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-25:2003 [IDT], IEC 60749-25:2003 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-25:2004 - wersja angielska
ICS	31.080.01