PN-EN 60749-25:2004 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska

Bez VAT: 188,80  PLN Z VAT: 232,22  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykliczne zmiany temperatury

Zakres

Podano procedurę badania w celu określenia zdolności przyrządów półprzewodnikowych, podzespołów i/lub płyt montażowych do wytrzymywania odkształceń mechanicznych wywoływanych zmieniającą się w sposób skrajny wysoką i niską temperaturą. Wskutek tych odkształceń mechanicznych mogą nastąpić trwałe zmiany parametrów elektrycznych i/lub fizycznych. Dokument ma zastosowanie do pojedynczych, podwójnych i potrójnych komór zmienno-temperaturowych i obejmuje podzespół oraz badanie połączeń lutowanych

* wymagane pola

Bez VAT: 188,80  PLN Z VAT: 232,22  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-25:2004 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykliczne zmiany temperatury
Data publikacji 15-06-2004
Data wycofania 27-01-2006
Liczba stron 34
Grupa cenowa Q
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-25:2003 [IDT], IEC 60749-25:2003 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska