PN-EN IEC 60749-28:2022-11 - wersja angielska
Bez VAT:
206,40 PLN
Z VAT:
253,87 PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych -- Część 28: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model urządzenia ładowanego (CDM) -- poziom urządzenia
Zakres
Niniejsza część IEC 60749 ustanawia sposób postępowania dla badania, oceniania i klasyfikowania urządzeń i układów scalonych zgodnie z ich podatnością (wrażliwością) na uszkodzenie lub degradację poprzez ekspozycję na wyładowanie elektrostatyczne (ESD) zdefiniowanego modelu urządzenia ładowanego polem indukowanym (CDM). Zgodnie z niniejszym dokumentem mają być oceniane wszystkie opakowane przyrządy półprzewodnikowe, obwody cienkowarstwowe, przyrządy powierzchniowej fali akustycznej (SAW), przyrządy optoelektroniczne, hybrydowe układy scalone (HIC) i moduły wieloczipowe (MCM) zawierające jakikolwiek z tych przyrządów. Aby wykonać badania, przyrządy są zebrane do opakowania podobnego do oczekiwanego w końcowym zastosowaniu. Niniejszego dokumentu CDM nie stosuje się do testerów modeli wyładowania podłączonych do złącza. Ten dokument opisuje metodę pola indukowanego (FI). Alternatywna metoda kontaktu bezpośredniego (DC) jest opisana w Załączniku J. Celem niniejszego dokumentu jest ustanowienie metody badania, która powtórzy uszkodzenia CDM i zapewni wiarygodne, powtarzalne wyniki badań ESD CDM, z próbki na próbkę, bez względu na typ przyrządu. Powtarzalne dane uściślą dokładne klasyfikacje i porównania poziomów wrażliwości ESD CDM.
