Informacje dodatkowe
| Numer | PN-EN 60749-23:2006/A1:2011 - wersja angielska |
|---|---|
| Tytuł | Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze |
| Data publikacji | 28-06-2011 |
| Liczba stron | 5 |
| Grupa cenowa | C |
| Sektor | SEK, Sektor Elektroniki |
| Organ Techniczny | KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych |
| Wprowadza | EN 60749-23:2004/A1:2011 [IDT], IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 [IDT] |
| ICS | 31.080.01 |

