PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska

W niniejszej części IEC 60749-29 opisano badanie układów scalonych impulsami prądowymi typu test-I oraz badanie zatrzaśnięcia spowodowane przepięciem. Badanie to jest klasyfikowane jako niszczące. Celem tego badania jest ustalenie metody określania charakterystyk stanu zatrzaśnięcia w układach scalonych (IC) i zdefiniowanie kryteriów uszkodzeń związanych ze stanem zatrzaśnięcia. Charakterystyki zatrzaśnięcia są wykorzystywane przy określeniu nieuszkadzalności wyrobu i minimalizowaniu liczby uszkodzeń (NTF) i przeciążeń elektrycznych (EOS) powodowanych zatrzaśnięciem. Niniejsza metoda badań była pierwotnie stosowana do przyrzadów CMOS. Zastosowanie do innych technologii wymaga ustanowienia. Klasyfikację zatrzaśnięcia w funkcji temperatury określono w 3.1, a kryteria poziomu uszkodzeń w 3.2