Strona główna /
PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska

PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska

Bez VAT: 136,00 PLN Z VAT: 167,28 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie stanu zatrzaśnięcia

Zakres

Opisano badanie układów scalonych impulsami prądowymi typu test-I oraz badanie zatrzaśnięcia spowodowane przepięciem. Celem tego badania jest ustalenie metody określania charakterystyk stanu zatrzaśnięcia w układach scalonych i zdefiniowanie kryteriów uszkodzeń związanych ze stanem zatrzaśnięcia. Charakterystyki zatrzaśnięcia są wykorzystywane przy określeniu nieuszkadzalności wyrobu i minimalizowaniu liczby uszkodzeń wynikających z zatrzaśnięcia

* Forma udostępnienia: Plik - 136,00 PLN

Papier - 136,00 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 20,80 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 136,00 PLN Z VAT: 167,28 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie stanu zatrzaśnięcia
Data publikacji	17-07-2006
Data wycofania	20-10-2011
Liczba stron	22
Grupa cenowa	L
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-29:2003 [IDT], EN 60749-29:2003/corrigendum Mar. 2004 [IDT], IEC 60749-29:2003 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-29:2004 - wersja angielska
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska