Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108390 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
-
PN-EN 60749-32:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 32: Palność przyrządów w obudowach z tworzyw sztucznych (zapalenie z zewnątrz)Wprowadza: EN 60749-32:2003 [IDT], EN 60749-32:2003/corrigendum Jul. 2003 [IDT], IEC 60749-32:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-33:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-33:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 33: Wytrzymałość na przyspieszoną wilgotność - badanie bez obciążenia w autoklawieWprowadza: EN 60749-33:2004 [IDT], IEC 60749-33:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-33:2006 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 33: Przyspieszone badanie wytrzymałości na wilgoć -- Badanie w autoklawie bez polaryzacjiWprowadza: EN 60749-33:2004 [IDT], IEC 60749-33:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-34:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-34:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 34: Cykliczne zmiany mocyWprowadza: EN 60749-34:2004 [IDT], IEC 60749-34:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-34:2006 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-34:2011 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 34: Cykle mocyWprowadza: EN 60749-34:2004 [IDT], IEC 60749-34:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-34:2011 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 34: Cykle mocyWprowadza: EN 60749-34:2010 [IDT], IEC 60749-34:2010 [IDT]
-
PN-EN 60749-35:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-35:2009 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskop akustyczny w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznychWprowadza: EN 60749-35:2006 [IDT], IEC 60749-35:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskopia akustyczna w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznychWprowadza: EN 60749-35:2006 [IDT], IEC 60749-35:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-36:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-36:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 36: Przyspieszenie, stan ustalonyWprowadza: EN 60749-36:2003 [IDT], IEC 60749-36:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-36:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 36: Przyspieszenie stałeWprowadza: EN 60749-36:2003 [IDT], IEC 60749-36:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-37:2008 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-37:2023-07 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 37: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem przyspieszeniomierzaWprowadza: EN 60749-37:2008 [IDT], IEC 60749-37:2008 [IDT]
-
PN-EN 60749-38:2008 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 38: Metoda badania uszkodzeń parametrycznych w przyrządach półprzewodnikowych z pamięciąWprowadza: EN 60749-38:2008 [IDT], IEC 60749-38:2008 [IDT]
-
PN-EN 60749-39:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-39:2008 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 39: Pomiar przenikalności wilgoci i rozpuszczalności w wodzie materiałów organicznych używanych do podzespołów półprzewodnikowychWprowadza: EN 60749-39:2006 [IDT], IEC 60749-39:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-39:2008 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-39:2022-08 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 39: Pomiary współczynnika dyfuzji wilgoci i rozpuszczalności wody w materiałach organicznych stosowanych w podzespołach półprzewodnikowychWprowadza: EN 60749-39:2006 [IDT], IEC 60749-39:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-3:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-3:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Oględziny zewnętrzneWprowadza: EN 60749-3:2002 [IDT], IEC 60749-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-3:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-3:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualnaWprowadza: EN 60749-3:2002 [IDT], IEC 60749-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-3:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualnaWprowadza: EN 60749-3:2017 [IDT], IEC 60749-3:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-40:2012 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 40: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem czujnika tensometrycznegoWprowadza: EN 60749-40:2011 [IDT], IEC 60749-40:2011 [IDT]
-
PN-EN 60749-42:2014-12 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 42: Temperatura i wilgotność przechowywaniaWprowadza: EN 60749-42:2014 [IDT], IEC 60749-42:2014 [IDT]
-
PN-EN 60749-43:2018-01 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 63287-1:2022-05 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 43: Wytyczne dla sposobów kwalifikacji pewności układów scalonych (IC)Wprowadza: EN 60749-43:2017 [IDT], IEC 60749-43:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-44:2017-01 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 44: Metoda badania skutku pojedynczego zdarzenia (SEE) napromieniowania wiązką neutronów dla przyrządów półprzewodnikowychWprowadza: EN 60749-44:2016 [IDT], IEC 60749-44:2016 [IDT]
-
PN-EN 60749-4:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-4:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 4: Badanie przyrządu w stanie ustalonym, w szybko narastającym wilgotnym gorącu (HAST)Wprowadza: EN 60749-4:2002 [IDT], IEC 60749-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-4:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-4:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 4: Wilgotne gorąco stałe, badanie silnie przyspieszone (HAST)Wprowadza: EN 60749-4:2002 [IDT], IEC 60749-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-4:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 4: Wilgotne gorąco stałe, badanie silnie przyspieszone (HAST)Wprowadza: EN 60749-4:2017 [IDT], IEC 60749-4:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-5:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-5:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Próba trwałości w ustalonych warunkach temperatury i wilgotnościWprowadza: EN 60749-5:2003 [IDT], IEC 60749-5:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-5:2005 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-5:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Badanie trwałości w ustalonych warunkach temperatury, wilgotności i polaryzacjiWprowadza: EN 60749-5:2003 [IDT], IEC 60749-5:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-5:2017-10 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-5:2024-09 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Metoda badania trwałości w warunkach długotrwałego oddziaływania wysokiej temperatury i wysokiej wilgotnościWprowadza: EN 60749-5:2017 [IDT], IEC 60749-5:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-6:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-6:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 6: Przechowywanie w wysokiej temperaturzeWprowadza: EN 60749-6:2002 [IDT], IEC 60749-6:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-6:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-6:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 6: Przechowywanie w wysokiej temperaturzeWprowadza: EN 60749-6:2002 [IDT], IEC 60749-6:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-6:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 6: Przechowywanie w wysokiej temperaturzeWprowadza: EN 60749-6:2017 [IDT], IEC 60749-6:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-7:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-7:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 7: Pomiar zawartości wilgoci wewnętrznej i analiza innych gazów resztkowychWprowadza: EN 60749-7:2002 [IDT], IEC 60749-7:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-7:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-7:2012 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 7: Pomiar zawartości wilgoci wewnętrznej i analiza innych gazów resztkowychWprowadza: EN 60749-7:2002 [IDT], IEC 60749-7:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-7:2012 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 7: Pomiar zawartości wilgoci wewnętrznej i analiza innych gazów resztkowychWprowadza: EN 60749-7:2011 [IDT], IEC 60749-7:2011 [IDT]
-
PN-EN 60749-8:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-8:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: SzczelnośćWprowadza: EN 60749-8:2003 [IDT], IEC 60749-8:2002 [IDT], IEC 60749-8:2002/COR1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-8:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: SzczelnośćWprowadza: EN 60749-8:2003 [IDT], IEC 60749-8:2002 [IDT], IEC 60749-8:2002/COR1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-9:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowaniaWprowadza: EN 60749-9:2002 [IDT], IEC 60749-9:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowaniaWprowadza: EN 60749-9:2002 [IDT], IEC 60749-9:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowaniaWprowadza: EN 60749-9:2017 [IDT], IEC 60749-9:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749:2001/A1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749:2003 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczneWprowadza: EN 60749:1999/A1:2000 [IDT], IEC 60749:1996/AMD1:2000 [IDT]
-
PN-EN 60749:2001 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749:2003 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczneWprowadza: EN 60749:1999 [IDT], IEC 60749:1996 [IDT]
-
PN-EN 60749:2003 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznychWprowadza: EN 60749:1999 [IDT], EN 60749:1999/A2:2001 [IDT], EN 60749:1999/A1:2000 [IDT], IEC 60749:1996 [IDT], IEC 60749:1996/AMD1:2000 [IDT], IEC 60749:1996/AMD2:2001 [IDT]
-
PN-EN 60751:1997 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60751:2009 - wersja angielskaCzujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnychWprowadza: EN 60751:1995 [IDT], EN 60751:1995/A2:1995 [IDT], IEC 60751:1983 [IDT], IEC 60751:1983/AMD1:1986 [IDT], IEC 60751:1983/AMD2:1995 [IDT]
-
PN-EN 60751:2009 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60751:2022-11 - wersja angielskaCzujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnych i platynowe czujniki temperaturyWprowadza: EN 60751:2008 [IDT], IEC 60751:2008 [IDT]
-
PN-EN 60754-1:2014-11/A1:2020-09 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 1: Oznaczanie zawartości halogenowodorówWprowadza: EN 60754-1:2014/A1:2020 [IDT], IEC 60754-1:2011/AMD1:2019 [IDT]
-
PN-EN 60754-1:2014-11 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 1: Oznaczanie zawartości halogenowodorówWprowadza: EN 60754-1:2014 [IDT], IEC 60754-1:2011 [IDT]
-
PN-EN 60754-1:2014-11 - wersja polska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 1: Oznaczanie zawartości halogenowodorówWprowadza: EN 60754-1:2014 [IDT], IEC 60754-1:2011 [IDT]
-
PN-EN 60754-2:2014-11/A1:2020-09 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pobranych z kabli i przewodów -- Część 2: Oznaczanie kwasowości (przez pomiar pH) i konduktywnościWprowadza: EN 60754-2:2014/A1:2020 [IDT], IEC 60754-2:2011/AMD1:2019 [IDT]
-
PN-EN 60754-2:2014-11 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pobranych z kabli i przewodów -- Część 2: Oznaczanie kwasowości (przez pomiar pH) i konduktywnościWprowadza: EN 60754-2:2014 [IDT], IEC 60754-2:2011 [IDT]
-
PN-EN 60756:2002 - wersja polska
Magnetowidy taśmowe powszechnego użytku -- Stabilność podstawy czasuWprowadza: EN 60756:1993 [IDT], IEC 60756:1991 [IDT]
-
PN-EN 60758:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60758:2009 - wersja angielskaSyntetyczny kryształ kwarcu -- Specyfikacja i przewodnik stosowaniaWprowadza: EN 60758:2005 [IDT], IEC 60758:2004 [IDT]


