PN-EN 60749-37:2008 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-37:2023-07 - wersja angielska

Bez VAT: 136,00  PLN Z VAT: 167,28  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 37: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem przyspieszeniomierza

Zakres

Przedstawiono zalecaną metodę badawczą, mającą za zadanie, za pomocą badań przyspieszonych, ocenę i porównanie zachowania podzespołów elektronicznych montowanych powierzchniowo do zastosowań w kieszonkowych wyrobach elektronicznych, w których nadmierna elastyczność płytki drukowanej może skutkować uszkodzeniem przyrządów. Celem jest znormalizowanie metodologii badania płytek drukowanych podczas próby zrzucania płytek z zamontowanymi podzespołami SMD, ujawniającej te same rodzaje uszkodzeń, które występują w normalnej próbie dla wyrobu. Nie jest to próba kwalifikacyjna podzespołu, nie ma ona na celu zastąpić jakiejkolwiek próby zrzucania wyrobu. Ma natomiast służyć do symulacji uderzeń związanych z transportem i manipulacjami zespołów płytek drukowanych z zamontowanymi podzespołami

* wymagane pola

Bez VAT: 136,00  PLN Z VAT: 167,28  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-37:2008 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 37: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem przyspieszeniomierza
Data publikacji 25-11-2008
Data wycofania 12-07-2023
Liczba stron 22
Grupa cenowa L
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-37:2008 [IDT], IEC 60749-37:2008 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-37:2023-07 - wersja angielska