Zakres
Niniejsza Część IEC 60749 udziela wytycznych dla sposobów kwalifikacji pewności wyrobów półprzewodnikowych układów scalonych (IC). Ten dokument nie jest przeznaczony dla zastosowań związanych z wojskowością i przestrzenią kosmiczną. UWAGA 1 Producent może użyć elastycznej wielkości próbek, by zmniejszyć koszt i zapewnić możliwą do zaakceptowania pewność przy adaptacji niniejszych wytycznych opartych na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 lub innych dokumentach związanych, mogących również być przydatnymi, jeżeli jest to wyszczególnione. UWAGA 2 Metoda rozkładu Weibulla używana w tym dokumencie jest jedną z kilku metod, by obliczyć odpowiednią wielkość próbki i warunki badania danego projektu pewności.
