PN-EN IEC 63287-1:2022-05 - wersja angielska
Bez VAT:
206,40 PLN
Z VAT:
253,87 PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Ogólne wytyczne dotyczące kwalifikacji półprzewodników -- Część 1: Wytyczne dotyczące kwalifikacji niezawodności IC
Zakres
W niniejszej części IEC 63287 podano wytyczne dotyczące planów kwalifikacji niezawodności produktów z układami scalonymi o dużej skali integracji. Ten dokument nie jest przeznaczony do zastosowań wojskowych i kosmicznych.
UWAGA 1 Producent może użyć elastycznych rozmiarów próbek w celu obniżenia kosztów i utrzymania przez to rozsądnej wiarygodności dostosowania wytycznych w oparciu o EDR-4708, AEC Q100, JESD47 lub inny odpowiedni dokument może również mieć zastosowanie, jeżeli jest określony.
UWAGA 2 Metoda rozkładu Weibulla zastosowana w tym dokumencie jest jedną z kilku metod obliczania odpowiedniej wielkości próbki i warunków testowych danego projektu niezawodnościowego.