Strona główna /
PN-EN 60749-35:2006 - wersja angielska

PN-EN 60749-35:2006 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska

Bez VAT: 249,60 PLN Z VAT: 307,01 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskop akustyczny w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznych

Zakres

Zdefiniowano procedury użycia mikroskopu akustycznego do oceny elementów elektronicznych w obudowach nie hermetyzowanych z tworzyw sztucznych. Niniejsza metoda umożliwia użytkownikom mikroskopów akustycznych śledzenie wad (rozwarstwień, pęknięć, ubytków itd) w obudowach z tworzyw sztucznych, w sposób nie niszczący, podczas procesów technologicznych

* Forma udostępnienia: Plik - 249,60 PLN

Papier - 249,60 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 32,10 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 249,60 PLN Z VAT: 307,01 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-35:2006 - wersja angielska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskop akustyczny w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznych
Data publikacji	28-11-2006
Data wycofania	06-05-2009
Liczba stron	50
Grupa cenowa	T
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-35:2006 [IDT], IEC 60749-35:2006 [IDT]
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska