Strona główna /
PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska

PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska

Bez VAT: 136,00 PLN Z VAT: 167,28 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskopia akustyczna w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznych

Zakres

Określono procedury użycia mikroskopu akustycznego do oceny elementów elektronicznych w obudowach niehermetycznych z tworzyw sztucznych. Niniejsza metoda umożliwia użytkownikom mikroskopów akustycznych wykrywanie wad (rozwarstwień, pęknięć, ubytków itd.) w obudowach z tworzyw sztucznych, w sposób nieniszczący i powtarzalnie

* Forma udostępnienia: Plik - 136,00 PLN

Papier - 136,00 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 20,80 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 136,00 PLN Z VAT: 167,28 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskopia akustyczna w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznych
Data publikacji	06-05-2009
Liczba stron	21
Grupa cenowa	L
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-35:2006 [IDT], IEC 60749-35:2006 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-35:2006 - wersja angielska
ICS	31.080.01