PN-EN 60749-38:2008 - wersja angielska
Bez VAT:
107,60 PLN
Z VAT:
132,35 PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 38: Metoda badania uszkodzeń parametrycznych w przyrządach półprzewodnikowych z pamięcią
Zakres
Przedstawiono procedurę mierzenia zdolności utrzymania danych w przyrządach półprzewodnikowych z pamięcią po narażeniu ich na oddziaływanie cząstek wysokoenergetycznych takich jak promieniowanie alfa. Opisano dwa testy: test przyspieszony z użyciem źródła promieniowania alfa oraz test systemowy, w którym uszkodzenia generowane są w warunkach naturalnego promieniowania, którym może być zarówno promieniowanie alfa jak i promieniowanie innego rodzaju, np. neutronowe. Aby dokonać pełnej charakteryzacji odporności układów scalonych z pamięcią na uszkodzenia parametryczne (przemijające) należy narażać przyrząd na szerokie spektrum wysokich energii oraz neutronów termicznych z zastosowaniem dodatkowych metod badawczych. Metodę można stosować do dowolnego typu układu scalonego z pamięcią
