Strona główna /
PN-EN 60749-3:2004 - wersja polska

PN-EN 60749-3:2004 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-3:2017-10 - wersja angielska

Bez VAT: 51,50 PLN Z VAT: 63,35 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualna

Zakres

Celem niniejszej normy jest sprawdzenie, czy materiały, projekt, konstrukcja, oznakowanie i wykonanie przyrządu półprzewodnikowego są zgodne z odpowiednim dostarczonym dokumentem. Zewnętrzna kontrola wizualna jest badaniem nieniszczącym, stosuje się ją do wszystkich typów obudów

* Forma udostępnienia: Plik - 51,50 PLN

Papier - 51,50 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 12,30 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 51,50 PLN Z VAT: 63,35 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749-3:2004 - wersja polska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualna
Data publikacji	23-08-2004
Data wycofania	09-10-2017
Liczba stron	6
Grupa cenowa	C
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749-3:2002 [IDT], IEC 60749-3:2002 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749-3:2003 - wersja angielska
ICS	31.080.01
Zastąpiona przez	PN-EN 60749-3:2017-10 - wersja angielska