PN-EN 60749-6:2017-10 - wersja angielska

Celem tej części IEC 60749 jest zbadanie i określenie wpływu przechowywania w określonej temperaturze, bez narażeń elektrycznych, na wszystkie monolityczne przyrządy elektroniczne. To badanie jest typowo stosowane do określenia wpływu czasu i temperatury, w warunkach przechowywania, dla metod termicznie przyśpieszonych uszkodzeń w monolitycznych przyrządach elektronicznych, włączając przyrządy pamięci nieulotnej (mechanizmy uszkodzenia przechowywania danych). Badanie to jest badaniem nieniszczącym, ale powinno raczej zostać użyte dla kwalifikacji przyrządu. Jeżeli takie przyrządy będą użyte do dostawy, muszą zostać ocenione skutki badania tego wysoce przyspieszonego narażenia. Mechanizmy uszkodzenia termicznie przyspieszonego są modelowane używając równania Arrheniusa dla przyspieszenia, a przewodnik po wyborze temperatur badania i czasów trwania można znaleźć w IEC 60749-43.