Strona główna /
PN-EN 60749:2003 - wersja angielska

PN-EN 60749:2003 - wersja angielska

Norma wycofana

Bez VAT: 401,50 PLN Z VAT: 493,85 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych

Zakres

Podano do wyboru metody badawcze stosowane do przyrządów półprzewodnikowych (przyrządy dyskretne i układy scalone). Ustalono jednorodne, najistotniejsze metody badawcze z wartościami poziomów przeciążeń, w celu oceny właściwości otoczenia przyrządów półprzewodnikowych

* Forma udostępnienia: Plik - 401,50 PLN

Papier - 401,50 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 47,30 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 401,50 PLN Z VAT: 493,85 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 60749:2003 - wersja angielska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych
Data publikacji	15-11-2003
Data wycofania	01-07-2016
Liczba stron	126
Grupa cenowa	XB
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 60749:1999 [IDT], EN 60749:1999/A2:2001 [IDT], EN 60749:1999/A1:2000 [IDT], IEC 60749:1996 [IDT], IEC 60749:1996/AMD1:2000 [IDT], IEC 60749:1996/AMD2:2001 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 60749:2001/A1:2002 - wersja angielska, PN-EN 60749:2001 - wersja polska
ICS	31.080.01