Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu

108388 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania

  • Data publikacji: Array

Zmodyfikuj swoje zapytanie

Produkty 62051 do 62100 z 108388

na stronę
Strona:
  2. 1
  3. ...
  4. 1238
  5. 1239
  6. 1240
  7. 1241
  8. 1242
  9. 1243
  10. 1244
  11. 1245
  12. 1246
  13. 1247
  14. ...
  15. 2168

Ustaw kierunek rosnący
  1. PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze

    Wprowadza: EN 60749-23:2004 [IDT], IEC 60749-23:2004 [IDT]

  2. PN-EN 60749-23:2006/A1:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-23:2006/A1:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Badanie trwałości w wysokiej temperaturze

    Wprowadza: EN 60749-23:2004/A1:2011 [IDT], IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 [IDT]

  3. PN-EN 60749-23:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60749-23:2005 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-23:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 23: Trwałość w wysokiej temperaturze

    Wprowadza: EN 60749-23:2004 [IDT], IEC 60749-23:2004 [IDT]

  4. PN-EN 60749-22:2006 - wersja polska

    PN-EN 60749-22:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 22: Wytrzymałość połączeń

    Wprowadza: EN 60749-22:2003 [IDT], IEC 60749-22:2002 [IDT]

  5. PN-EN 60749-22:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-22:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-22:2006 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 22: Wytrzymałość połączeń

    Wprowadza: EN 60749-22:2003 [IDT], IEC 60749-22:2002 [IDT]

  6. PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

    Wprowadza: EN 60749-21:2011 [IDT], IEC 60749-21:2011 [IDT]

  7. PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska

    PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-21:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

    Wprowadza: EN 60749-21:2005 [IDT], IEC 60749-21:2004 [IDT]

  8. PN-EN 60749-21:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60749-21:2005 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-21:2007 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 21: Lutowność

    Wprowadza: EN 60749-21:2005 [IDT], IEC 60749-21:2004 [IDT]

  9. PN-EN 60749-20:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-20:2010 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-20:2021-06 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Wytrzymałość przyrządów do montażu powierzchniowego, hermetyzowanych tworzywem sztucznym, na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20:2009 [IDT], IEC 60749-20:2008 [IDT]

  10. PN-EN 60749-20:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-20:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-20:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Wytrzymałość przyrządów do montażu powierzchniowego, hermetyzowanych tworzywem sztucznym, na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20:2003 [IDT], IEC 60749-20:2002 [IDT]

  11. PN-EN 60749-20:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-20:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-20:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Odporność przyrządów w obudowach plastikowych przeznaczonych do montażu powierzchniowego (SMD) na warunki mieszane wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20:2003 [IDT], IEC 60749-20:2002 [IDT]

  12. PN-EN 60749-20-1:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-20-1:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20- 1: Manipulowanie, pakowanie, znakowanie i transport przyrządów do montażu powierzchniowego, wrażliwych na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowania

    Wprowadza: EN 60749-20-1:2009 [IDT], IEC 60749-20-1:2009 [IDT]

  13. PN-EN 60749-1:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-1:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 1: Postanowienia ogólne

    Wprowadza: EN 60749-1:2003 [IDT], IEC 60749-1:2002 [IDT]

  14. PN-EN 60749-1:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-1:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-1:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 1: Postanowienia ogólne

    Wprowadza: EN 60749-1:2003 [IDT], IEC 60749-1:2002 [IDT]

  15. PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktury na ścinanie

    Wprowadza: EN 60749-19:2003 [IDT], EN 60749-19:2003/corrigendum Jun. 2003 [IDT], IEC 60749-19:2003 [IDT]

  16. PN-EN 60749-19:2005/A1:2010 - wersja angielska

    PN-EN 60749-19:2005/A1:2010 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktury na ścinanie

    Wprowadza: EN 60749-19:2003/A1:2010 [IDT], IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 [IDT]

  17. PN-EN 60749-19:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-19:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-19:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 19: Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie

    Wprowadza: EN 60749-19:2003 [IDT], IEC 60749-19:2003 [IDT]

  18. PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-18:2019-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (dawka całkowita)

    Wprowadza: EN 60749-18:2003 [IDT], IEC 60749-18:2002 [IDT]

  19. PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-18:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-18:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (całkowita dawka)

    Wprowadza: EN 60749-18:2003 [IDT], IEC 60749-18:2002 [IDT]

  20. PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-17:2019-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromienienie neutronami

    Wprowadza: EN 60749-17:2003 [IDT], IEC 60749-17:2003 [IDT]

  21. PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-17:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-17:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromieniowanie neutronowe

    Wprowadza: EN 60749-17:2003 [IDT], IEC 60749-17:2003 [IDT]

  22. PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 16: Detekcja szmerów spowodowanych uderzeniami cząstek (PIND)

    Wprowadza: EN 60749-16:2003 [IDT], IEC 60749-16:2003 [IDT]

  23. PN-EN 60749-16:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-16:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-16:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 16: Wykrywanie swobodnych ciał obcych za pomocą badania hałasu (PIND)

    Wprowadza: EN 60749-16:2003 [IDT], IEC 60749-16:2003 [IDT]

  24. PN-EN 60749-15:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60749-15:2011 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-15:2021-04 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów do montażu przewlekanego

    Wprowadza: EN 60749-15:2010 [IDT], IEC 60749-15:2010 [IDT]

  25. PN-EN 60749-15:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-15:2005 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-15:2011 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów do montażu przewlekanego

    Wprowadza: EN 60749-15:2003 [IDT], IEC 60749-15:2003 [IDT]

  26. PN-EN 60749-15:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-15:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-15:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów montowanych w otworze przelotowym

    Wprowadza: EN 60749-15:2003 [IDT], IEC 60749-15:2003 [IDT]

  27. PN-EN 60749-14:2005 - wersja polska

    PN-EN 60749-14:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 14: Wytrzymałość wyprowadzeń (spójność końcówek)

    Wprowadza: EN 60749-14:2003 [IDT], IEC 60749-14:2003 [IDT]

  28. PN-EN 60749-14:2004 - wersja angielska

    PN-EN 60749-14:2004 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-14:2005 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 14: Odporność wyprowadzeń (całkowitość przewodzenia)

    Wprowadza: EN 60749-14:2003 [IDT], IEC 60749-14:2003 [IDT]

  29. PN-EN 60749-13:2004 - wersja polska

    PN-EN 60749-13:2004 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-13:2018-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 13: Mgła solna

    Wprowadza: EN 60749-13:2002 [IDT], IEC 60749-13:2002 [IDT]

  30. PN-EN 60749-13:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-13:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-13:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 13: Mgła solna

    Wprowadza: EN 60749-13:2002 [IDT], IEC 60749-13:2002 [IDT]

  31. PN-EN 60749-12:2004 - wersja polska

    PN-EN 60749-12:2004 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-12:2018-11 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 12: Wibracje o zmiennej częstotliwości

    Wprowadza: EN 60749-12:2002 [IDT], IEC 60749-12:2002 [IDT]

  32. PN-EN 60749-12:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-12:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-12:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 12: Wibracje o zmiennej częstotliwości

    Wprowadza: EN 60749-12:2002 [IDT], IEC 60749-12:2002 [IDT]

  33. PN-EN 60749-11:2004 - wersja polska

    PN-EN 60749-11:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 11: Szybkie zmiany temperatury -- Metoda dwóch kąpieli

    Wprowadza: EN 60749-11:2002 [IDT], IEC 60749-11:2002 [IDT]

  34. PN-EN 60749-11:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-11:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-11:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 11: Metoda dwóch kąpieli

    Wprowadza: EN 60749-11:2002 [IDT], IEC 60749-11:2002 [IDT]

  35. PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska

    PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne

    Wprowadza: EN 60749-10:2002 [IDT], IEC 60749-10:2002 [IDT]

  36. PN-EN 60749-10:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60749-10:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne

    Wprowadza: EN 60749-10:2002 [IDT], IEC 60749-10:2002 [IDT]

  37. PN-EN 60747-5-5:2011 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-5:2011 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60747-5-5:2021-04 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy dyskretne -- Część 5-5: Przyrządy optoelektroniczne -- Transoptory

    Wprowadza: EN 60747-5-5:2011 [IDT], IEC 60747-5-5:2007 [IDT]

  38. PN-EN 60747-5-5:2011/A1:2015-10 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-5:2011/A1:2015-10 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60747-5-5:2021-04 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy dyskretne -- Część 5-5: Przyrządy optoelektroniczne -- Transoptory

    Wprowadza: EN 60747-5-5:2011/A1:2015 [IDT], IEC 60747-5-5:2007/AMD1:2013 [IDT]

  39. PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska

    PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska
    Norma wycofana

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe

    Wprowadza: EN 60747-5-3:2001 [IDT], EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997 [IDT]

  40. PN-EN 60747-5-3:2002 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-3:2002 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe

    Wprowadza: EN 60747-5-3:2001 [IDT], IEC 60747-5-3:1997 [IDT]

  41. PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe

    Wprowadza: EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT]

  42. PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polska

    PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polska
    Norma wycofana

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-2: Przyrządy optoelektroniczne -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne, wartości charakterystyczne i charakterystyki

    Wprowadza: EN 60747-5-2:2001 [IDT], EN 60747-5-2:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-2:1997 [IDT], IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 [IDT]

  43. PN-EN 60747-5-2:2002 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-2:2002 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone dyskretne -- Część 5-2: Przyrządy optoelektroniczne -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i charakterystyki

    Wprowadza: EN 60747-5-2:2001 [IDT], IEC 60747-5-2:1997 [IDT]

  44. PN-EN 60747-5-2:2002/A1:2003 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-2:2002/A1:2003 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone dyskretne -- Część 5-2: Przyrządy optoelektroniczne -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i charakterystyki

    Wprowadza: EN 60747-5-2:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 [IDT]

  45. PN-EN 60747-5-1:2004 - wersja polska

    PN-EN 60747-5-1:2004 - wersja polska
    Norma wycofana

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-1: Przyrządy optoelektroniczne -- Postanowienia ogólne

    Wprowadza: EN 60747-5-1:2001 [IDT], EN 60747-5-1:2001/A2:2002 [IDT], IEC 60747-5-1:1997/AMD1:2001 [IDT], IEC 60747-5-1:1997 [IDT], IEC 60747-5-1:1997/AMD2:2002 [IDT], EN 60747-5-1:2001/A1:2002 [IDT]

  46. PN-EN 60747-5-1:2002 - wersja angielska

    PN-EN 60747-5-1:2002 - wersja angielska
    Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-1:2004 - wersja polska

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-1: Przyrządy optoelektroniczne -- Wymagania ogólne

    Wprowadza: EN 60747-5-1:2001 [IDT], IEC 60747-5-1:1997 [IDT]

  47. PN-EN 60747-16-5:2014-01 - wersja angielska

    PN-EN 60747-16-5:2014-01 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-5: Mikrofalowe układy scalone -- Generatory

    Wprowadza: EN 60747-16-5:2013 [IDT], IEC 60747-16-5:2013 [IDT]

  48. PN-EN 60747-16-5:2014-01/A1:2021-04 - wersja angielska

    PN-EN 60747-16-5:2014-01/A1:2021-04 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-5: Mikrofalowe układy scalone -- Generatory

    Wprowadza: EN 60747-16-5:2013/A1:2020 [IDT], IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 [IDT], IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 [IDT]

  49. PN-EN 60747-16-4:2005 - wersja angielska

    PN-EN 60747-16-4:2005 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 16-4: Układy scalone mikrofalowe -- Przełączniki

    Wprowadza: EN 60747-16-4:2004 [IDT], IEC 60747-16-4:2004 [IDT]

  50. PN-EN 60747-16-4:2005/A2:2018-03 - wersja angielska

    PN-EN 60747-16-4:2005/A2:2018-03 - wersja angielska

    Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 16-4: Układy scalone mikrofalowe -- Przełączniki

    Wprowadza: EN 60747-16-4:2004/A2:2017 [IDT], IEC 60747-16-4:2004/AMD2:2017 [IDT]

Produkty 62051 do 62100 z 108388

na stronę
Strona:
  2. 1
  3. ...
  4. 1238
  5. 1239
  6. 1240
  7. 1241
  8. 1242
  9. 1243
  10. 1244
  11. 1245
  12. 1246
  13. 1247
  14. ...
  15. 2168

Ustaw kierunek rosnący
Mój koszyk

Nie masz produktów w koszyku.

 

Pomóż nam utrzymać Magento w dobrej kondycji - Zgłaszaj wszystkie błędy

© 2012 Polski Komitet Normalizacyjny. All Rights Reserved.