PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe

Zakres

Opisano metody pomiarowe stosowane do przyrządów optoelektronicznych, które nie są przeznaczone do wykorzystania w systemach i podsystemach światłowodowych

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe
Data publikacji 15-08-2003
Data wycofania 04-02-2008
Liczba stron 18
Grupa cenowa J
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT]
ICS 31.260
Zastąpiona przez PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska