PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska

Norma wycofana

Bez VAT: 232,40  PLN Z VAT: 285,85  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe

Zakres

Opisano metody pomiarowe stosowane do przyrządów optoelektronicznych, które nie są przeznaczone do wykorzystania w systemach i podsystemach światłowodowych

* wymagane pola

Bez VAT: 232,40  PLN Z VAT: 285,85  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe
Data publikacji 04-02-2008
Data wycofania 24-11-2025
Liczba stron 45
Grupa cenowa S
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60747-5-3:2001 [IDT], EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60747-5-3:2002 - wersja angielska, PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska
ICS 31.080.99, 31.260