Informacje dodatkowe
| Numer | PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska |
|---|---|
| Tytuł | Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiarowe |
| Data publikacji | 04-02-2008 |
| Data wycofania | 24-11-2025 |
| Liczba stron | 45 |
| Grupa cenowa | S |
| Sektor | SEK, Sektor Elektroniki |
| Organ Techniczny | KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych |
| Wprowadza | EN 60747-5-3:2001 [IDT], EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997 [IDT] |
| Zastępuje | PN-EN 60747-5-3:2002 - wersja angielska, PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska |
| ICS | 31.080.99, 31.260 |

