PN-EN 60749-10:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska

Bez VAT: 79,60  PLN Z VAT: 97,91  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne

Zakres

Opisano badanie pojedynczym udarem w celu określenia przydatności podzespołów do zastosowania w sprzęcie elektronicznym, który może być poddany umiarkowanie silnym udarom w rezultacie niespodziewanego przyłożenia siły lub nagłych przeciążeń w wyniku niezręcznej manipulacji, transportu lub w eksploatacji. Udar tego typu może zakłócić parametry robocze, w szczególności, gdy impulsy mechaniczne pochodzące od udarów powtarzają się. Jest to badanie niszczące. Jest zwykle stosowane do obudów typu wnękowego

* wymagane pola

Bez VAT: 79,60  PLN Z VAT: 97,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60749-10:2003 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne
Data publikacji 15-08-2003
Data wycofania 23-08-2004
Liczba stron 16
Grupa cenowa H
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-10:2002 [IDT], IEC 60749-10:2002 [IDT]
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska