PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielska

Bez VAT: 48,10  PLN Z VAT: 59,16  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne

Zakres

Opisano badanie wpływu udarów przeznaczone do określenia przydatności podzespołów do stosowania w urządzeniach elektronicznych, które mogą być poddane umiarkowanym udarom jako wynik nagle zastosowanej siły lub nagłych zmian w ruchu, wywołanych nieostrożną manipulacją, transportem lub eksploatacją. Udary tego typu mogą zakłócać parametry robocze, szczególnie jeżeli udary są powtarzalne. Badanie to jest badaniem niszczącym. Jest ono zwykle stosowane do obudów z wnęką

* wymagane pola

Bez VAT: 48,10  PLN Z VAT: 59,16  PLN

Informacje dodatkowe

Aktualna w ocenie zgodności 01-06-2025 - Patrz Komunikat Prezesa PKN
Numer PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne
Data publikacji 23-08-2004
Data wycofania 12-01-2023
Liczba stron 7
Grupa cenowa D
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 60749-10:2002 [IDT], IEC 60749-10:2002 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60749-10:2003 - wersja angielska
ICS 31.080.01
Zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielska