PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielska

Bez VAT: 93,50  PLN Z VAT: 115,01  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne -- Urządzenie i podzespół

Zakres

Niniejsza część normy IEC 60749 ma na celu ocenę urządzeń w stanie swobodnym i zamontowanych na płytkach drukowanych do użytku w sprzęcie elektrycznym. Metoda ma na celu określenie kompatybilności urządzeń i podzespołów do wytrzymywania umiarkowanie silnych wstrząsów. Użycie podzespołów umożliwia testowanie urządzeń w warunkach użytkowania zamontowanych na płytkach drukowanych. Wstrząs mechaniczny spowodowany nagłym przyłożeniem sił lub nagła zmiana ruchu spowodowana obsługą, transportem lub operacją w terenie może zakłócić charakterystykę pracy, szczególnie jeśli impulsy uderzeniowe są powtarzalne. Jest to niszczycielski test mający na celu kwalifikację urządzenia.

* wymagane pola

Bez VAT: 93,50  PLN Z VAT: 115,01  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne -- Urządzenie i podzespół
Data publikacji 12-01-2023
Liczba stron 20
Grupa cenowa K
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN IEC 60749-10:2022 [IDT], IEC 60749-10:2022 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska
ICS 31.080.01