Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108388 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
Produkty 62001 do 62050 z 108388
-
PN-EN 60749-5:2017-10 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-5:2024-09 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Metoda badania trwałości w warunkach długotrwałego oddziaływania wysokiej temperatury i wysokiej wilgotnościWprowadza: EN 60749-5:2017 [IDT], IEC 60749-5:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-5:2005 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-5:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Badanie trwałości w ustalonych warunkach temperatury, wilgotności i polaryzacjiWprowadza: EN 60749-5:2003 [IDT], IEC 60749-5:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-5:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-5:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Próba trwałości w ustalonych warunkach temperatury i wilgotnościWprowadza: EN 60749-5:2003 [IDT], IEC 60749-5:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-4:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 4: Wilgotne gorąco stałe, badanie silnie przyspieszone (HAST)Wprowadza: EN 60749-4:2017 [IDT], IEC 60749-4:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-4:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-4:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 4: Wilgotne gorąco stałe, badanie silnie przyspieszone (HAST)Wprowadza: EN 60749-4:2002 [IDT], IEC 60749-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-4:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-4:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 4: Badanie przyrządu w stanie ustalonym, w szybko narastającym wilgotnym gorącu (HAST)Wprowadza: EN 60749-4:2002 [IDT], IEC 60749-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-44:2017-01 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 44: Metoda badania skutku pojedynczego zdarzenia (SEE) napromieniowania wiązką neutronów dla przyrządów półprzewodnikowychWprowadza: EN 60749-44:2016 [IDT], IEC 60749-44:2016 [IDT]
-
PN-EN 60749-43:2018-01 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 63287-1:2022-05 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 43: Wytyczne dla sposobów kwalifikacji pewności układów scalonych (IC)Wprowadza: EN 60749-43:2017 [IDT], IEC 60749-43:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-42:2014-12 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 42: Temperatura i wilgotność przechowywaniaWprowadza: EN 60749-42:2014 [IDT], IEC 60749-42:2014 [IDT]
-
PN-EN 60749-40:2012 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 40: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem czujnika tensometrycznegoWprowadza: EN 60749-40:2011 [IDT], IEC 60749-40:2011 [IDT]
-
PN-EN 60749-3:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualnaWprowadza: EN 60749-3:2017 [IDT], IEC 60749-3:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-3:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-3:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualnaWprowadza: EN 60749-3:2002 [IDT], IEC 60749-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-3:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-3:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 3: Oględziny zewnętrzneWprowadza: EN 60749-3:2002 [IDT], IEC 60749-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-39:2008 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-39:2022-08 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 39: Pomiary współczynnika dyfuzji wilgoci i rozpuszczalności wody w materiałach organicznych stosowanych w podzespołach półprzewodnikowychWprowadza: EN 60749-39:2006 [IDT], IEC 60749-39:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-39:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-39:2008 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 39: Pomiar przenikalności wilgoci i rozpuszczalności w wodzie materiałów organicznych używanych do podzespołów półprzewodnikowychWprowadza: EN 60749-39:2006 [IDT], IEC 60749-39:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-38:2008 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 38: Metoda badania uszkodzeń parametrycznych w przyrządach półprzewodnikowych z pamięciąWprowadza: EN 60749-38:2008 [IDT], IEC 60749-38:2008 [IDT]
-
PN-EN 60749-37:2008 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-37:2023-07 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 37: Metoda badawcza zrzucania podzespołów zamontowanych na płytkach drukowanych z wykorzystaniem przyspieszeniomierzaWprowadza: EN 60749-37:2008 [IDT], IEC 60749-37:2008 [IDT]
-
PN-EN 60749-36:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 36: Przyspieszenie stałeWprowadza: EN 60749-36:2003 [IDT], IEC 60749-36:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-36:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-36:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 36: Przyspieszenie, stan ustalonyWprowadza: EN 60749-36:2003 [IDT], IEC 60749-36:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-35:2009 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskopia akustyczna w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznychWprowadza: EN 60749-35:2006 [IDT], IEC 60749-35:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-35:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-35:2009 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 35: Mikroskop akustyczny w zastosowaniu do elementów elektronicznych w obudowach z tworzyw sztucznychWprowadza: EN 60749-35:2006 [IDT], IEC 60749-35:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-34:2011 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 34: Cykle mocyWprowadza: EN 60749-34:2010 [IDT], IEC 60749-34:2010 [IDT]
-
PN-EN 60749-34:2006 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-34:2011 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 34: Cykle mocyWprowadza: EN 60749-34:2004 [IDT], IEC 60749-34:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-34:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-34:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 34: Cykliczne zmiany mocyWprowadza: EN 60749-34:2004 [IDT], IEC 60749-34:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-33:2006 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 33: Przyspieszone badanie wytrzymałości na wilgoć -- Badanie w autoklawie bez polaryzacjiWprowadza: EN 60749-33:2004 [IDT], IEC 60749-33:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-33:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-33:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 33: Wytrzymałość na przyspieszoną wilgotność - badanie bez obciążenia w autoklawieWprowadza: EN 60749-33:2004 [IDT], IEC 60749-33:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-32:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 32: Palność przyrządów w obudowach z tworzyw sztucznych (zapalenie z zewnątrz)Wprowadza: EN 60749-32:2003 [IDT], EN 60749-32:2003/corrigendum Jul. 2003 [IDT], IEC 60749-32:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-32:2005/A1:2010 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 32: Palność przyrządów w obudowach z tworzyw sztucznych (zapalenie z zewnątrz)Wprowadza: EN 60749-32:2003/A1:2010 [IDT], IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60749-32:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-32:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 32: Łatwopalność przyrządów w obudowach plastikowych (od przegrzania z zewnątrz obudowy)Wprowadza: EN 60749-32:2003 [IDT], IEC 60749-32:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-31:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 31: Palność przyrządów w obudowach z tworzyw sztucznych (zapalenie od wewnątrz)Wprowadza: EN 60749-31:2003 [IDT], IEC 60749-31:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-31:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-31:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 31: Łatwopalność przyrządów w obudowach plastikowych (od przegrzania wewnątrz obudowy)Wprowadza: EN 60749-31:2003 [IDT], IEC 60749-31:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-30:2007 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalnościWprowadza: EN 60749-30:2005 [IDT], IEC 60749-30:2005 [IDT]
-
PN-EN 60749-30:2007/A1:2011 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalnościWprowadza: EN 60749-30:2005/A1:2011 [IDT], IEC 60749-30:2005/AMD1:2011 [IDT]
-
PN-EN 60749-30:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-30:2007 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Przygotowanie niehermetyzowanych przyrządów do montażu powierzchniowego do badań niezawodnościWprowadza: EN 60749-30:2005 [IDT], IEC 60749-30:2005 [IDT]
-
PN-EN 60749-2:2004 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 2: Niskie ciśnienie atmosferyczneWprowadza: EN 60749-2:2002 [IDT], IEC 60749-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-2:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-2:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 2: Niskie ciśnienieWprowadza: EN 60749-2:2002 [IDT], IEC 60749-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie stanu zatrzaśnięciaWprowadza: EN 60749-29:2011 [IDT], IEC 60749-29:2011 [IDT]
-
PN-EN 60749-29:2006 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-29:2011 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie stanu zatrzaśnięciaWprowadza: EN 60749-29:2003 [IDT], EN 60749-29:2003/corrigendum Mar. 2004 [IDT], IEC 60749-29:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-29:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-29:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 29: Badanie przerzutnikówWprowadza: EN 60749-29:2003 [IDT], IEC 60749-29:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-28:2017-10 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-28:2022-11 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 28: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model urządzenia ładowanego (CDM) -- poziom urządzeniaWprowadza: EN 60749-28:2017 [IDT], IEC 60749-28:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-27:2008 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 27: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model maszyny (MM)Wprowadza: EN 60749-27:2006 [IDT], IEC 60749-27:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-27:2008/A1:2013-06 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 27: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model maszyny (MM)Wprowadza: EN 60749-27:2006/A1:2012 [IDT], IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 [IDT]
-
PN-EN 60749-27:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-27:2008 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 27: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model maszyny (MM)Wprowadza: EN 60749-27:2006 [IDT], IEC 60749-27:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-26:2014-11 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-26:2018-08 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)Wprowadza: EN 60749-26:2014 [IDT], IEC 60749-26:2013 [IDT]
-
PN-EN 60749-26:2008 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-26:2014-11 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)Wprowadza: EN 60749-26:2006 [IDT], IEC 60749-26:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-26:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-26:2008 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)Wprowadza: EN 60749-26:2006 [IDT], IEC 60749-26:2006 [IDT]
-
PN-EN 60749-25:2006 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykle temperaturoweWprowadza: EN 60749-25:2003 [IDT], IEC 60749-25:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-25:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-25:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 25: Cykliczne zmiany temperaturyWprowadza: EN 60749-25:2003 [IDT], IEC 60749-25:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-24:2006 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 24: Przyspieszone badanie wytrzymałości na wilgoć -- HAST bez polaryzacjiWprowadza: EN 60749-24:2004 [IDT], IEC 60749-24:2004 [IDT]
-
PN-EN 60749-24:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-24:2006 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 24: Wytrzymałość na przyspieszoną wilgotność - badanie silnie przyspieszone bez obciążenia (HAST)Wprowadza: EN 60749-24:2004 [IDT], IEC 60749-24:2004 [IDT]
