Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108388 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
-
PN-EN 60770-3:2014-12 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzetworniki stosowane w systemach sterowania procesami przemysłowymi -- Część 3: Metody oceny charakterystyk przetworników inteligentnychWprowadza: EN 60770-3:2014 [IDT], IEC 60770-3:2014 [IDT]
-
PN-EN 60770-3:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60770-3:2014-12 - wersja angielskaPrzetworniki pomiarowe stosowane w systemach sterowania procesami przemysłowymi -- Część 3: Metody oceny przetworników inteligentnychWprowadza: EN 60770-3:2006 [IDT], IEC 60770-3:2006 [IDT]
-
PN-EN 60770-2:2011 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzetworniki pomiarowe stosowane w systemach sterowania procesami przemysłowymi -- Część 2: Metody badań i proceduryWprowadza: EN 60770-2:2010 [IDT], IEC 60770-2:2010 [IDT]
-
PN-EN 60770-2:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60770-2:2011 - wersja angielskaPrzetworniki pomiarowe stosowane w systemach sterowania procesami przemysłowymi -- Część 2: Metody badań i proceduryWprowadza: EN 60770-2:2003 [IDT], IEC 60770-2:2003 [IDT]
-
PN-EN 60770-1:2011 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzetworniki pomiarowe stosowane w systemach sterowania procesami przemysłowymi -- Część 1: Metody wyznaczania właściwościWprowadza: EN 60770-1:2011 [IDT], IEC 60770-1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60770-1:2002 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60770-1:2011 - wersja angielskaPrzetworniki pomiarowe stosowane w systemach sterowania procesami przemysłowymi -- Część 1: Metody wyznaczania właściwościWprowadza: EN 60770-1:1999 [IDT], IEC 60770-1:1999 [IDT]
-
PN-EN 6076:2017-07 - wersja angielska
Lotnictwo i kosmonautyka -- Elementy uszczelnienia statycznego w postaci O-ringu do prostych rur gwintowanych z podtoczeniem, etylenowo-propylenowego, wytłaczanego, odpornego na estry fosforanowe (od -55 °C do 107 °C) -- Seria calowaWprowadza: EN 6076:2017 [IDT]
-
PN-EN 60763-3-1:2011 - wersja angielska
Preszpan wielowarstwowy do zastosowań elektrycznych -- Część 3-1: Wymagania techniczne dla poszczególnych materiałów -- Wymagania dla preszpanu wielowarstwowego prasowanego wstępnie typu LB3.1A.1 oraz LB3.1A.2Wprowadza: EN 60763-3-1:2011 [IDT], IEC 60763-3-1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60763-3-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60763-3-1:2011 - wersja angielskaWymagania techniczne dla preszpanu wielowarstwowego -- Część 3-1: Wymagania techniczne dla poszczególnych materiałów -- Wymagania dla wielowarstwowej wstępnie prasowanej tektury -- Typ LB 3.1.1, 3.1.2, 3.3.1 i 3.3.2Wprowadza: EN 60763-3-1:1996 [IDT], IEC 60763-3-1:1992 [IDT]
-
PN-EN 60763-2:2007 - wersja angielska
Wymagania techniczne dla preszpanu wielowarstwowego -- Część 2: Metody badańWprowadza: EN 60763-2:2007 [IDT], IEC 60763-2:2007 [IDT]
-
PN-EN 60763-2:2007/A1:2024-08 - wersja angielska
Wymagania techniczne dla preszpanu wielowarstwowego -- Część 2: Metody badańWprowadza: EN 60763-2:2007/A1:2023 [IDT], IEC 60763-2:2007/AMD1:2023 [IDT]
-
PN-EN 60763-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60763-2:2007 - wersja angielskaWymagania techniczne dla preszpanu wielowarstwowego -- Część 2: Metody badańWprowadza: EN 60763-2:1996 [IDT], IEC 60763-2:1991 [IDT]
-
PN-EN 60763-1:2011 - wersja angielska
Preszpan wielowarstwowy do zastosowań elektrycznych -- Część 1: Definicje, klasyfikacja i wymagania ogólneWprowadza: EN 60763-1:2011 [IDT], IEC 60763-1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60763-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60763-1:2011 - wersja angielskaWymagania techniczne dla preszpanu wielowarstwowego -- Część 1: Definicje, klasyfikacja i wymagania ogólneWprowadza: EN 60763-1:1996 [IDT], IEC 60763-1:1983 [IDT]
-
PN-EN 60761-5:2009 - wersja polska
Urządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w uwolnieniach gazowych -- Część 5: Wymagania specyficzne dla monitorów trytuWprowadza: EN 60761-5:2004 [IDT], IEC 60761-5:2002 [MOD]
-
PN-EN 60761-5:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60761-5:2009 - wersja polskaUrządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 5: Specyficzne wymagania dla monitorów trytuWprowadza: EN 60761-5:2004 [IDT], IEC 60761-5:2002 [MOD]
-
PN-EN 60761-4:2008 - wersja polska
Urządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 4: Specyficzne wymagania dla monitorów jodu promieniotwórczegoWprowadza: EN 60761-4:2004 [IDT], IEC 60761-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60761-4:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60761-4:2008 - wersja polskaUrządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 4: Specyficzne wymagania dla monitorów joduWprowadza: EN 60761-4:2004 [IDT], IEC 60761-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60761-3:2009 - wersja polska
Urządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w uwolnieniach gazowych -- Część 3: Wymagania specyficzne dla monitorów promieniotwórczych gazów szlachetnychWprowadza: EN 60761-3:2004 [IDT], IEC 60761-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60761-3:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60761-3:2009 - wersja polskaUrządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 3: Specyficzne wymagania dla monitorów promieniotwórczych gazów szlachetnychWprowadza: EN 60761-3:2004 [IDT], IEC 60761-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60761-2:2009 - wersja polska
Urządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w uwolnieniach gazowych -- Część 2: Wymagania specyficzne dla monitorów aerozoli promieniotwórczych zawierających transuranowceWprowadza: EN 60761-2:2004 [IDT], IEC 60761-2:2002 [MOD]
-
PN-EN 60761-2:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60761-2:2009 - wersja polskaUrządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 2: Specyficzne wymagania dotyczące monitorów aerozolów promieniotwórczych zawierających aerozole transuranoweWprowadza: EN 60761-2:2004 [IDT], IEC 60761-2:2002 [MOD]
-
PN-EN 60761-1:2007 - wersja polska
Urządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 1: Wymagania ogólneWprowadza: EN 60761-1:2004 [IDT], IEC 60761-1:2002 [MOD]
-
PN-EN 60761-1:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60761-1:2007 - wersja polskaUrządzenia do ciągłego monitorowania promieniotwórczości w odpadach gazowych -- Część 1: Wymagania ogólneWprowadza: EN 60761-1:2004 [IDT], IEC 60761-1:2002 [MOD]
-
PN-EN 6075:2017-07 - wersja angielska
Lotnictwo i kosmonautyka -- Elementy uszczelnienia statycznego w postaci O-ringu etylenowo-propylenowego, wytłaczanego, odpornego na estry fosforanowe (od -55 °C do 107 °C) -- Seria calowaWprowadza: EN 6075:2017 [IDT]
-
PN-EN 60758:2016-10 - wersja angielska
Syntetyczny kryształ kwarcu -- Specyfikacje i przewodnik stosowaniaWprowadza: EN 60758:2016 [IDT], IEC 60758:2016 [IDT]
-
PN-EN 60758:2009 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60758:2016-10 - wersja angielskaSyntetyczny kryształ kwarcu -- Specyfikacja i przewodnik stosowaniaWprowadza: EN 60758:2009 [IDT], IEC 60758:2008 [IDT]
-
PN-EN 60758:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60758:2009 - wersja angielskaSyntetyczny kryształ kwarcu -- Specyfikacja i przewodnik stosowaniaWprowadza: EN 60758:2005 [IDT], IEC 60758:2004 [IDT]
-
PN-EN 60756:2002 - wersja polska
Magnetowidy taśmowe powszechnego użytku -- Stabilność podstawy czasuWprowadza: EN 60756:1993 [IDT], IEC 60756:1991 [IDT]
-
PN-EN 60754-2:2014-11 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pobranych z kabli i przewodów -- Część 2: Oznaczanie kwasowości (przez pomiar pH) i konduktywnościWprowadza: EN 60754-2:2014 [IDT], IEC 60754-2:2011 [IDT]
-
PN-EN 60754-2:2014-11/A1:2020-09 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pobranych z kabli i przewodów -- Część 2: Oznaczanie kwasowości (przez pomiar pH) i konduktywnościWprowadza: EN 60754-2:2014/A1:2020 [IDT], IEC 60754-2:2011/AMD1:2019 [IDT]
-
PN-EN 60754-1:2014-11 - wersja polska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 1: Oznaczanie zawartości halogenowodorówWprowadza: EN 60754-1:2014 [IDT], IEC 60754-1:2011 [IDT]
-
PN-EN 60754-1:2014-11 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 1: Oznaczanie zawartości halogenowodorówWprowadza: EN 60754-1:2014 [IDT], IEC 60754-1:2011 [IDT]
-
PN-EN 60754-1:2014-11/A1:2020-09 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 1: Oznaczanie zawartości halogenowodorówWprowadza: EN 60754-1:2014/A1:2020 [IDT], IEC 60754-1:2011/AMD1:2019 [IDT]
-
PN-EN 60751:2009 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60751:2022-11 - wersja angielskaCzujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnych i platynowe czujniki temperaturyWprowadza: EN 60751:2008 [IDT], IEC 60751:2008 [IDT]
-
PN-EN 60751:1997 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60751:2009 - wersja angielskaCzujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnychWprowadza: EN 60751:1995 [IDT], EN 60751:1995/A2:1995 [IDT], IEC 60751:1983 [IDT], IEC 60751:1983/AMD1:1986 [IDT], IEC 60751:1983/AMD2:1995 [IDT]
-
PN-EN 60749:2003 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznychWprowadza: EN 60749:1999 [IDT], EN 60749:1999/A2:2001 [IDT], EN 60749:1999/A1:2000 [IDT], IEC 60749:1996 [IDT], IEC 60749:1996/AMD1:2000 [IDT], IEC 60749:1996/AMD2:2001 [IDT]
-
PN-EN 60749:2001 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749:2003 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczneWprowadza: EN 60749:1999 [IDT], IEC 60749:1996 [IDT]
-
PN-EN 60749:2001/A1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749:2003 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczneWprowadza: EN 60749:1999/A1:2000 [IDT], IEC 60749:1996/AMD1:2000 [IDT]
-
PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowaniaWprowadza: EN 60749-9:2017 [IDT], IEC 60749-9:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-9:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowaniaWprowadza: EN 60749-9:2002 [IDT], IEC 60749-9:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-9:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-9:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 9: Trwałość oznakowaniaWprowadza: EN 60749-9:2002 [IDT], IEC 60749-9:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-8:2005 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: SzczelnośćWprowadza: EN 60749-8:2003 [IDT], IEC 60749-8:2002 [IDT], IEC 60749-8:2002/COR1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-8:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-8:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 8: SzczelnośćWprowadza: EN 60749-8:2003 [IDT], IEC 60749-8:2002 [IDT], IEC 60749-8:2002/COR1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60749-7:2012 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 7: Pomiar zawartości wilgoci wewnętrznej i analiza innych gazów resztkowychWprowadza: EN 60749-7:2011 [IDT], IEC 60749-7:2011 [IDT]
-
PN-EN 60749-7:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-7:2012 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 7: Pomiar zawartości wilgoci wewnętrznej i analiza innych gazów resztkowychWprowadza: EN 60749-7:2002 [IDT], IEC 60749-7:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-7:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-7:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 7: Pomiar zawartości wilgoci wewnętrznej i analiza innych gazów resztkowychWprowadza: EN 60749-7:2002 [IDT], IEC 60749-7:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-6:2017-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 6: Przechowywanie w wysokiej temperaturzeWprowadza: EN 60749-6:2017 [IDT], IEC 60749-6:2017 [IDT]
-
PN-EN 60749-6:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-6:2017-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 6: Przechowywanie w wysokiej temperaturzeWprowadza: EN 60749-6:2002 [IDT], IEC 60749-6:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-6:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-6:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 6: Przechowywanie w wysokiej temperaturzeWprowadza: EN 60749-6:2002 [IDT], IEC 60749-6:2002 [IDT]


