Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108390 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
-
PN-EN IEC 60747-15:2025-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 15: Przyrządy dyskretne -- Izolowane przyrządy półprzewodnikowe mocyWprowadza: EN IEC 60747-15:2024 [IDT], IEC 60747-15:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60747-16-6:2020-03 - wersja angielska
Urządzenia półprzewodnikowe -- Część 16-6: Mikrofalowe układy scalone -- Mnożniki częstotliwościWprowadza: EN IEC 60747-16-6:2019 [IDT], IEC 60747-16-6:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60747-16-7:2023-08 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-7: Mikrofalowe układy scalone -- TłumikiWprowadza: EN IEC 60747-16-7:2023 [IDT], IEC 60747-16-7:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60747-16-8:2023-08 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-8: Mikrofalowe układy scalone -- OgranicznikiWprowadza: EN IEC 60747-16-8:2023 [IDT], IEC 60747-16-8:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60747-16-9:2025-10 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-9: Mikrofalowe układy scalone -- Przesuwniki fazoweWprowadza: EN IEC 60747-16-9:2024 [IDT], IEC 60747-16-9:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60747-17:2021-06 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 17: Sprzęgacz magnetyczny i pojemnościowy realizujący izolację podstawową i wzmocnionąWprowadza: EN IEC 60747-17:2020 [IDT], IEC 60747-17:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60747-5-5:2021-04 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 5-5: Przyrządy optoelektroniczne -- TransoptoryWprowadza: EN IEC 60747-5-5:2020 [IDT], IEC 60747-5-5:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczne -- Urządzenie i podzespółWprowadza: EN IEC 60749-10:2022 [IDT], IEC 60749-10:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-12:2018-11 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 12: Wibracje o zmiennej częstotliwościWprowadza: EN IEC 60749-12:2018 [IDT], IEC 60749-12:2017 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-13:2018-11 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 13: Mgła solnaWprowadza: EN IEC 60749-13:2018 [IDT], IEC 60749-13:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-15:2021-04 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 15: Wytrzymałość na temperaturę lutowania przyrządów do montażu przewlekanegoWprowadza: EN IEC 60749-15:2020 [IDT], IEC 60749-15:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-17:2019-11 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 17: Napromienienie neutronamiWprowadza: EN IEC 60749-17:2019 [IDT], IEC 60749-17:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-18:2019-11 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 18: Promieniowanie jonizujące (dawka całkowita)Wprowadza: EN IEC 60749-18:2019 [IDT], IEC 60749-18:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-20:2021-06 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 20: Wytrzymałość przyrządów do montażu powierzchniowego, hermetyzowanych tworzywem sztucznym, na łączne działanie wilgoci i ciepła lutowaniaWprowadza: EN IEC 60749-20:2020 [IDT], IEC 60749-20:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-26:2018-08 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 26: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model ciała ludzkiego (HBM)Wprowadza: EN IEC 60749-26:2018 [IDT], IEC 60749-26:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-28:2022-11 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych -- Część 28: Badanie wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne (ESD) -- Model urządzenia ładowanego (CDM) -- poziom urządzeniaWprowadza: EN IEC 60749-28:2022 [IDT], IEC 60749-28:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-30:2021-05 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 30: Przygotowania wstępne do badań niezawodnościowych niehermetycznych elementów do montażu powierzchniowegoWprowadza: EN IEC 60749-30:2020 [IDT], IEC 60749-30:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-37:2023-07 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych -- Część 37: Metoda testu upuszczenia z poziomu płyty z wykorzystaniem akcelerometruWprowadza: EN IEC 60749-37:2022 [IDT], IEC 60749-37:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-39:2022-08 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych -- Część 39: Pomiary dyfuzyjności wilgoci i rozpuszczalności w wodzie materiałów organicznych stosowanych w podzespołach półprzewodnikowychWprowadza: EN IEC 60749-39:2022 [IDT], IEC 60749-39:2021 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-41:2021-04 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych -- Część 41: Standardowe metody badań niezawodności pamięci nieulotnychWprowadza: EN IEC 60749-41:2020 [IDT], IEC 60749-41:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-5:2024-09 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 5: Metoda badania trwałości w warunkach długotrwałego oddziaływania wysokiej temperatury i wysokiej wilgotnościWprowadza: EN IEC 60749-5:2024 [IDT], IEC 60749-5:2023 [IDT]
-
PN-EN IEC 60751:2022-11 - wersja angielska
Platynowe czujniki przemysłowych termometrów rezystancyjnych i platynowe czujniki temperaturyWprowadza: EN IEC 60751:2022 [IDT], IEC 60751:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60754-3:2020-06 - wersja angielska
Badanie gazów wydzielających się podczas spalania materiałów pochodzących z kabli i przewodów -- Część 3: Pomiar niskiego poziomu zawartości halogenów za pomocą chromatografii jonowejWprowadza: EN IEC 60754-3:2019 [IDT], IEC 60754-3:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60757:2022-03 - wersja angielska
Kod do oznaczania barwWprowadza: EN IEC 60757:2021 [IDT], IEC 60757:2021 [IDT]
-
PN-EN IEC 60773:2022-01 - wersja angielska
Maszyny elektryczne wirujące -- Metody badań i aparatura do pomiaru eksploatacyjnych charakterystyk szczotekWprowadza: EN IEC 60773:2021 [IDT], IEC 60773:2021 [IDT]
-
PN-EN IEC 60779:2021-03 - wersja angielska
Instalacje do elektrotermii i obróbki elektromagnetycznej -- Metody badań pieców do przetapiania elektrożużlowegoWprowadza: EN IEC 60779:2020 [IDT], IEC 60779:2020 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-1:2023-03 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-1: Metody pomiarów i procedury badań -- Postanowienia ogólne i przewodnikWprowadza: EN IEC 60793-1-1:2022 [IDT], IEC 60793-1-1:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-22:2025-03 - wersja angielska
Włókna światłowodowe -- Część 1-22: Metody pomiarów i procedury badań -- Pomiar długościWprowadza: EN IEC 60793-1-22:2024 [IDT], IEC 60793-1-22:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-31:2019-06 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-31: Metody pomiarów i procedury badań -- Wytrzymałość na rozciąganieWprowadza: EN IEC 60793-1-31:2019 [IDT], IEC 60793-1-31:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-32:2019-05 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-32: Metody pomiarów i procedury badań -- Usuwalność pokryciaWprowadza: EN IEC 60793-1-32:2018 [IDT], IEC 60793-1-32:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-34:2021-11 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-34: Metody pomiarów i procedury badań -- Pomiar skrętu osiowegoWprowadza: EN IEC 60793-1-34:2021 [IDT], IEC 60793-1-34:2021 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-40:2019-07 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60793-1-40:2025-12 - wersja angielskaŚwiatłowody -- Część 1-40: Metody pomiaru tłumieniaWprowadza: EN IEC 60793-1-40:2019 [IDT], IEC 60793-1-40:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-40:2025-12 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-40: Metody pomiaru tłumieniaWprowadza: EN IEC 60793-1-40:2025 [IDT], IEC 60793-1-40:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-41:2025-01 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-41: Metody pomiarów i procedury badań -- Szerokość pasma przenoszeniaWprowadza: EN IEC 60793-1-41:2024 [IDT], IEC 60793-1-41:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-44:2024-04 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-44: Metody pomiarów i procedury badań -- Długość fali odcięciaWprowadza: EN IEC 60793-1-44:2023 [IDT], IEC 60793-1-44:2023 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-45:2018-06 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60793-1-45:2025-01 - wersja angielskaŚwiatłowody -- Część 1-45: Metody pomiarów i procedury badań -- Średnica pola moduWprowadza: EN IEC 60793-1-45:2018 [IDT], IEC 60793-1-45:2017 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-45:2025-01 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-45: Metody pomiarów i procedury badań -- Średnica pola moduWprowadza: EN IEC 60793-1-45:2024 [IDT], IEC 60793-1-45:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-46:2025-03 - wersja angielska
Włókna światłowodowe -- Część 1-46: Metody pomiarów i procedury badań -- Monitorowanie zmian tłumieniaWprowadza: EN IEC 60793-1-46:2024 [IDT], IEC 60793-1-46:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-47:2018-05 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-47: Metody pomiarów i procedury badań -- Straty wywołane makrozgięciamiWprowadza: EN IEC 60793-1-47:2018 [IDT], IEC 60793-1-47:2017 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-49:2019-03 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-1: Metody pomiarów i procedury badań -- Różnicowe opóźnienie modówWprowadza: EN IEC 60793-1-49:2018 [IDT], IEC 60793-1-49:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-1-54:2018-08 - wersja angielska
Światłowody -- Część 1-54: Metody pomiarów i procedury badań -- Naświetlanie promieniami gammaWprowadza: EN IEC 60793-1-54:2018 [IDT], IEC 60793-1-54:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-2-10:2019-12/A1:2022-10 - wersja angielska
Światłowody -- Część 2-10: Specyfikacja wyrobu -- Specyfikacja grupowa dla światłowodów wielomodowych kategorii A1Wprowadza: EN IEC 60793-2-10:2019/A1:2022 [IDT], IEC 60793-2-10:2019/AMD1:2022 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-2-10:2019-12 - wersja angielska
Światłowody -- Część 2-10: Specyfikacja wyrobu -- Specyfikacja grupowa dla światłowodów wielomodowych kategorii A1Wprowadza: EN IEC 60793-2-10:2019 [IDT], IEC 60793-2-10:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-2-40:2021-11 - wersja angielska
Światłowody -- Część 2-40: Specyfikacja wyrobu -- Specyfikacja grupowa światłowodów wielomodowych kategorii A4Wprowadza: EN IEC 60793-2-40:2021 [IDT], IEC 60793-2-40:2021 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-2-50:2019-05 - wersja angielska
Światłowody -- Część 2-50: Specyfikacja wyrobu -- Specyfikacja grupowa światłowodów jednomodowych klasy BWprowadza: EN IEC 60793-2-50:2019 [IDT], IEC 60793-2-50:2018 [IDT]
-
PN-EN IEC 60793-2:2020-08 - wersja angielska
Światłowody -- Część 2: Specyfikacja wyrobu -- Postanowienia ogólneWprowadza: EN IEC 60793-2:2019 [IDT], IEC 60793-2:2019 [IDT]
-
PN-EN IEC 60794-1-101:2025-02 - wersja angielska
Kable światłowodowe -- Część 1-101: Specyfikacja ogólna -- Podstawowe procedury badań kabli światłowodowych -- Metody badań mechanicznych -- Rozciąganie, metoda E1Wprowadza: EN IEC 60794-1-101:2024 [IDT], IEC 60794-1-101:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60794-1-104:2025-02 - wersja angielska
Kable światłowodowe -- Część 1-104: Specyfikacja ogólna -- Podstawowe procedury badań kabli światłowodowych -- Metody badań mechanicznych -- Udar, metoda E4Wprowadza: EN IEC 60794-1-104:2024 [IDT], IEC 60794-1-104:2024 [IDT]
-
PN-EN IEC 60794-1-111:2024-06 - wersja angielska
Kable światłowodowe -- Część 1-111: Specyfikacja ogólna -- Podstawowe procedury badań kabli światłowodowych -- Metody badań mechanicznych -- Zginanie, metoda E11Wprowadza: EN IEC 60794-1-111:2023 [IDT], IEC 60794-1-111:2023 [IDT]
-
PN-EN IEC 60794-1-1:2024-02 - wersja angielska
Kable światłowodowe -- Część 1-1: Wymagania wspólne -- Postanowienia ogólneWprowadza: EN IEC 60794-1-1:2023 [IDT], IEC 60794-1-1:2023 [IDT]


