Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108390 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
-
PN-EN 60745-2-6:2010 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 62841-2-6:2021-04 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-6: Wymagania szczegółowe dotyczące młotkówWprowadza: EN 60745-2-6:2010 [IDT], IEC 60745-2-6:2003 [MOD]
-
PN-EN 60745-2-8:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-8:2007 - wersja polskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-8: Wymagania szczegółowe dotyczące nożyc do blachy i nożyc wibracyjnychWprowadza: EN 60745-2-8:2003 [IDT], IEC 60745-2-8:2003 [MOD]
-
PN-EN 60745-2-8:2007/A11:2007 - wersja angielska
Norma wycofanaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-8: Wymagania szczegółowe dotyczące nożyc do blach i wycinarek do blachWprowadza: EN 60745-2-8:2003/A11:2007 [IDT]
-
PN-EN 60745-2-8:2007/A11:2009 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-8:2009 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-8: Wymagania szczegółowe dotyczące nożyc do blach i wycinarek do blachWprowadza: EN 60745-2-8:2003/A11:2007 [IDT]
-
PN-EN 60745-2-8:2007/A1:2009 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-8:2009 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-8: Wymagania szczegółowe dotyczące nożyc do blach i wycinarek do blachWprowadza: EN 60745-2-8:2003/A1:2009 [IDT], IEC 60745-2-8:2003/AMD1:2008 [IDT]
-
PN-EN 60745-2-8:2007 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-8:2009 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-8: Wymagania szczegółowe dotyczące nożyc do blach i wycinarek do blachWprowadza: EN 60745-2-8:2003 [IDT], IEC 60745-2-8:2003 [MOD]
-
PN-EN 60745-2-8:2009 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62841-2-8:2017-01 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-8: Wymagania szczegółowe dotyczące nożyc do blach i wycinarek do blachWprowadza: EN 60745-2-8:2009 [IDT], IEC 60745-2-8:2003 [MOD], IEC 60745-2-8:2003/AMD1:2008 [MOD]
-
PN-EN 60745-2-9:2004/A11:2007 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-9:2009 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-9: Wymagania szczegółowe dotyczące gwinciarekWprowadza: EN 60745-2-9:2003/A11:2007 [IDT]
-
PN-EN 60745-2-9:2004/A1:2008 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-9:2009 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-9: Wymagania szczegółowe dotyczące gwinciarekWprowadza: EN 60745-2-9:2003/A1:2008 [IDT], IEC 60745-2-9:2003/AMD1:2008 [IDT]
-
PN-EN 60745-2-9:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60745-2-9:2009 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-9: Wymagania szczegółowe dotyczące gwinciarekWprowadza: EN 60745-2-9:2003 [IDT], IEC 60745-2-9:2003 [MOD]
-
PN-EN 60745-2-9:2009 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62841-2-9:2015-07 - wersja angielskaNarzędzia ręczne o napędzie elektrycznym -- Bezpieczeństwo użytkowania -- Część 2-9: Wymagania szczegółowe dotyczące gwinciarekWprowadza: EN 60745-2-9:2009 [IDT], IEC 60745-2-9:2003 [MOD]
-
PN-EN 60746-1:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60746-1:2006 - wersja polskaWyrażanie charakterystyk analizatorów elektrochemicznych -- Część 1: Informacje ogólneWprowadza: EN 60746-1:2003 [IDT], IEC 60746-1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60746-1:2006 - wersja polska
Określanie właściwości analizatorów elektrochemicznych -- Część 1: Postanowienia ogólneWprowadza: EN 60746-1:2003 [IDT], IEC 60746-1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60746-2:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60746-2:2006 - wersja polskaWyrażanie charakterystyk analizatorów elektrochemicznych -- Część 2: Wartość pHWprowadza: EN 60746-2:2003 [IDT], IEC 60746-2:2003 [IDT]
-
PN-EN 60746-2:2006 - wersja polska
Określanie właściwości analizatorów elektrochemicznych -- Część 2: Wartość pHWprowadza: EN 60746-2:2003 [IDT], IEC 60746-2:2003 [IDT]
-
PN-EN 60746-3:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60746-3:2006 - wersja polskaWyrażanie charakterystyk analizatorów elektrochemicznych -- Część 3: Przewodnictwo elektrolityczneWprowadza: EN 60746-3:2002 [IDT], IEC 60746-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60746-3:2006 - wersja polska
Określanie właściwości analizatorów elektrochemicznych -- Część 3: Przewodnictwo elektrolityczne właściweWprowadza: EN 60746-3:2002 [IDT], IEC 60746-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60747-15:2006 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-15:2012 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 15: Izolowane przyrządy półprzewodnikowe mocyWprowadza: EN 60747-15:2004 [IDT], IEC 60747-15:2003 [IDT]
-
PN-EN 60747-15:2012 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60747-15:2025-10 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy dyskretne -- Część 15: Izolowane przyrządy półprzewodnikowe mocyWprowadza: EN 60747-15:2012 [IDT], IEC 60747-15:2010 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-10:2005 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-10: Harmonogram zatwierdzania technologii monolitycznych mikrofalowych układów scalonychWprowadza: EN 60747-16-10:2004 [IDT], IEC 60747-16-10:2004 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-1:2003/A1:2007 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-1: Mikrofalowe układy scalone -- WzmacniaczeWprowadza: EN 60747-16-1:2002/A1:2007 [IDT], IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2007 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-1:2003/A2:2017-09 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-1: Mikrofalowe układy scalone -- WzmacniaczeWprowadza: EN 60747-16-1:2002/A2:2017 [IDT], IEC 60747-16-1:2001/AMD2:2017 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-1:2003 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-1: Mikrofalowe układy scalone -- WzmacniaczeWprowadza: EN 60747-16-1:2002 [IDT], IEC 60747-16-1:2001 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-3:2003/A1:2009 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-3: Mikrofalowe układy scalone -- Przemienniki częstotliwościWprowadza: EN 60747-16-3:2002/A1:2009 [IDT], IEC 60747-16-3:2002/AMD1:2009 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-3:2003/A2:2018-03 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-3: Mikrofalowe układy scalone -- Przemienniki częstotliwościWprowadza: EN 60747-16-3:2002/A2:2017 [IDT], IEC 60747-16-3:2002/AMD2:2017 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-3:2003 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-3: Mikrofalowe układy scalone -- Przemienniki częstotliwościWprowadza: EN 60747-16-3:2002 [IDT], IEC 60747-16-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-4:2005/A1:2011 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 16-4: Układy scalone mikrofalowe -- PrzełącznikiWprowadza: EN 60747-16-4:2004/A1:2011 [IDT], IEC 60747-16-4:2004/AMD1:2009 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-4:2005/A2:2018-03 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 16-4: Układy scalone mikrofalowe -- PrzełącznikiWprowadza: EN 60747-16-4:2004/A2:2017 [IDT], IEC 60747-16-4:2004/AMD2:2017 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-4:2005 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 16-4: Układy scalone mikrofalowe -- PrzełącznikiWprowadza: EN 60747-16-4:2004 [IDT], IEC 60747-16-4:2004 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-5:2014-01/A1:2021-04 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-5: Mikrofalowe układy scalone -- GeneratoryWprowadza: EN 60747-16-5:2013/A1:2020 [IDT], IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 [IDT], IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 [IDT]
-
PN-EN 60747-16-5:2014-01 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 16-5: Mikrofalowe układy scalone -- GeneratoryWprowadza: EN 60747-16-5:2013 [IDT], IEC 60747-16-5:2013 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-1:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-1: Przyrządy optoelektroniczne -- Wymagania ogólneWprowadza: EN 60747-5-1:2001 [IDT], IEC 60747-5-1:1997 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-1:2004 - wersja polska
Norma wycofanaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-1: Przyrządy optoelektroniczne -- Postanowienia ogólneWprowadza: EN 60747-5-1:2001 [IDT], EN 60747-5-1:2001/A2:2002 [IDT], IEC 60747-5-1:1997/AMD1:2001 [IDT], IEC 60747-5-1:1997 [IDT], IEC 60747-5-1:1997/AMD2:2002 [IDT], EN 60747-5-1:2001/A1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-2:2002/A1:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe i układy scalone dyskretne -- Część 5-2: Przyrządy optoelektroniczne -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i charakterystykiWprowadza: EN 60747-5-2:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe i układy scalone dyskretne -- Część 5-2: Przyrządy optoelektroniczne -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i charakterystykiWprowadza: EN 60747-5-2:2001 [IDT], IEC 60747-5-2:1997 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-2:2007 - wersja polska
Norma wycofanaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-2: Przyrządy optoelektroniczne -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne, wartości charakterystyczne i charakterystykiWprowadza: EN 60747-5-2:2001 [IDT], EN 60747-5-2:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-2:1997 [IDT], IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-3:2002/A1:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiaroweWprowadza: EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-3:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiaroweWprowadza: EN 60747-5-3:2001 [IDT], IEC 60747-5-3:1997 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-3:2008 - wersja polska
Norma wycofanaPrzyrządy półprzewodnikowe dyskretne i układy scalone -- Część 5-3: Przyrządy optoelektroniczne -- Metody pomiaroweWprowadza: EN 60747-5-3:2001 [IDT], EN 60747-5-3:2001/A1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 [IDT], IEC 60747-5-3:1997 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-5:2011/A1:2015-10 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60747-5-5:2021-04 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy dyskretne -- Część 5-5: Przyrządy optoelektroniczne -- TransoptoryWprowadza: EN 60747-5-5:2011/A1:2015 [IDT], IEC 60747-5-5:2007/AMD1:2013 [IDT]
-
PN-EN 60747-5-5:2011 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60747-5-5:2021-04 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy dyskretne -- Część 5-5: Przyrządy optoelektroniczne -- TransoptoryWprowadza: EN 60747-5-5:2011 [IDT], IEC 60747-5-5:2007 [IDT]
-
PN-EN 60749-10:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-10:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczneWprowadza: EN 60749-10:2002 [IDT], IEC 60749-10:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-10:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-10:2023-01 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 10: Pojedyncze udary mechaniczneWprowadza: EN 60749-10:2002 [IDT], IEC 60749-10:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-11:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-11:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 11: Metoda dwóch kąpieliWprowadza: EN 60749-11:2002 [IDT], IEC 60749-11:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-11:2004 - wersja polska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 11: Szybkie zmiany temperatury -- Metoda dwóch kąpieliWprowadza: EN 60749-11:2002 [IDT], IEC 60749-11:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-12:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-12:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 12: Wibracje o zmiennej częstotliwościWprowadza: EN 60749-12:2002 [IDT], IEC 60749-12:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-12:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-12:2018-11 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 12: Wibracje o zmiennej częstotliwościWprowadza: EN 60749-12:2002 [IDT], IEC 60749-12:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-13:2003 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-13:2004 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 13: Mgła solnaWprowadza: EN 60749-13:2002 [IDT], IEC 60749-13:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-13:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60749-13:2018-11 - wersja angielskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 13: Mgła solnaWprowadza: EN 60749-13:2002 [IDT], IEC 60749-13:2002 [IDT]
-
PN-EN 60749-14:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60749-14:2005 - wersja polskaPrzyrządy półprzewodnikowe -- Badania mechaniczne i klimatyczne -- Część 14: Odporność wyprowadzeń (całkowitość przewodzenia)Wprowadza: EN 60749-14:2003 [IDT], IEC 60749-14:2003 [IDT]


