PN-EN IEC 63202-1:2020-01 - wersja angielska

Bez VAT: 69,20  PLN Z VAT: 85,12  PLN
Ogniwa fotowoltaiczne -- Cześć 1: Pomiar degradacji wywołanej światłem w krzemowych krystalicznych ogniwach słonecznych

Zakres

Niniejsza część IEC 63202 opisuje procedury pomiaru w warunkach symulowanego promieniowania słonecznego degradacji wywołanej światłem (LID) zachodzącej w ogniwach fotowoltaicznych (PV) wykonanych z krystalicznego krzemu. Wielkość LID w krzemowym krystalicznym ogniwie fotowoltaicznym określa się poprzez porównanie maksymalnej mocy wyjściowej w standardowych warunkach testu (STC) przed i po wystawieniu go na działanie symulowanego światła słonecznego w określonej temperaturze i natężeniu promieniowania.

Celem niniejszego dokumentu jest zapewnienie znormalizowanych informacji dotyczących degradacji LID aby pomóc producentom modułów PV w zminimalizowaniu niedopasowania pomiędzy ogniwami w obrębie tego samego modułu, w ten sposób maksymalizując jego moc wyjściową.

W porównaniu z pomiarami efektu LID w modułach PV, opisanymi w serii norm IEC 61215, stwierdzono kilka dodatkowych czynników eksperymentalnych, mających znaczący wpływ na test LID ogniw PV, a których nie uwzględniono w normie IEC 61215-2. Niniejszy dokument przedstawia procedurę kondycjonowania i pomiarów oraz dobór parametrów wymagany dla spójnych pomiarów LID ogniw PV.

Wielkość efektu LID jest jednym z ważnych wskaźników jakości ogniwa. Dla ogniw z tego samego koszyka po sortowaniu, najważniejszym wskaźnikiem jest rozkład ich mocy wyjściowej po procesie LID.

* wymagane pola

Bez VAT: 69,20  PLN Z VAT: 85,12  PLN

Informacje dodatkowe

Numer normy PN-EN IEC 63202-1:2020-01 - wersja angielska
Tytuł Ogniwa fotowoltaiczne -- Cześć 1: Pomiar degradacji wywołanej światłem w krzemowych krystalicznych ogniwach słonecznych
Data publikacji 29-01-2020
Liczba stron 18
Grupa cenowa J
Sektor SEL, Sektor Elektryki
Organ Techniczny KT 54, Chemicznych Źródeł Prądu
Wprowadza EN IEC 63202-1:2019 [IDT], IEC 63202-1:2019 [IDT]
ICS 27.160