PN-EN IEC 63202-1:2020-01 - wersja angielska
Bez VAT:
86,50 PLN
Z VAT:
106,40 PLN
Ogniwa fotowoltaiczne -- Cześć 1: Pomiar degradacji wywołanej światłem w krzemowych krystalicznych ogniwach słonecznych
Zakres
Niniejsza część IEC 63202 opisuje procedury pomiaru w warunkach symulowanego promieniowania słonecznego degradacji wywołanej światłem (LID) zachodzącej w ogniwach fotowoltaicznych (PV) wykonanych z krystalicznego krzemu. Wielkość LID w krzemowym krystalicznym ogniwie fotowoltaicznym określa się poprzez porównanie maksymalnej mocy wyjściowej w standardowych warunkach testu (STC) przed i po wystawieniu go na działanie symulowanego światła słonecznego w określonej temperaturze i natężeniu promieniowania.
Celem niniejszego dokumentu jest zapewnienie znormalizowanych informacji dotyczących degradacji LID aby pomóc producentom modułów PV w zminimalizowaniu niedopasowania pomiędzy ogniwami w obrębie tego samego modułu, w ten sposób maksymalizując jego moc wyjściową.
W porównaniu z pomiarami efektu LID w modułach PV, opisanymi w serii norm IEC 61215, stwierdzono kilka dodatkowych czynników eksperymentalnych, mających znaczący wpływ na test LID ogniw PV, a których nie uwzględniono w normie IEC 61215-2. Niniejszy dokument przedstawia procedurę kondycjonowania i pomiarów oraz dobór parametrów wymagany dla spójnych pomiarów LID ogniw PV.
Wielkość efektu LID jest jednym z ważnych wskaźników jakości ogniwa. Dla ogniw z tego samego koszyka po sortowaniu, najważniejszym wskaźnikiem jest rozkład ich mocy wyjściowej po procesie LID.
