PN-EN 62321-3-1:2014-08 - wersja angielska

W IEC 62321, Część 3-1 opisano przesiewową analizę pięciu substancji, w szczególności: ołowiu (Pb), rtęci (Hg), kadmu (Cd), całkowitej zawartości chromu (Cr) i całkowitej zawartości bromu (Br) z zastosowaniem techniki fluorescencyjnej spektrometrii rentgenowskiej (XRF), w jednorodnych materiałach znajdujących się w wyrobach elektrotechnicznych. Dotyczy tworzyw sztucznych, metali i materiałów ceramicznych. Metoda badań może być stosowana do nieprzetworzonych materiałów, pojedynczych materiałów pobranych z wyrobów oraz „ujednoliconych” mieszanin składających się z więcej niż jednego materiału. Badanie przesiewowe próbki wykonuje się z zastosowaniem dowolnego typu spektrometru XRF pod warunkiem, że spełnia on wymagania określone w niniejszej metodzie badań. Nie wszystkie typy spektrometrów XRF umożliwiają analizę próbek o różnych kształtach i wymiarach. Należy zwrócić uwagę na właściwy dobór spektrometru do określonego badania. Warunki przeprowadzenia badania zostały określone dla wymienionych substancji w różnych materiałach, w zakresach stężeń podanych w Tablicach od 1 do 5. Powyższe substancje występujące w podobnych materiałach, w innym zakresie stężeń można oznaczać zgodnie z niniejszą metodą badań, ale w niniejszej normie nie ustalono warunków badania.