PN-EN ISO 8289:2002 - wersja polska
Bez VAT:
48,10 PLN
Z VAT:
59,16 PLN
Emalie szkliste i porcelanowe -- Badanie niskonapięciowe w celu wykrycia i umiejscowienia wad
Zakres
Przedstawiono dwa badania z zastosowaniem niskiego napięcia w celu wykrycia i zlokalizowania wad w powłokach emalii szklistych i porcelanowych, pokrywających podłoże metalowe: metodę A (elektryczną) dotyczącą szybkiego wykrywania i oznaczania przybliżonej lokalizacji wad i metodę B (optyczną) dotyczącą precyzyjnego wykrywania wad i ich dokładnego umiejscowienia