PN-EN ISO 8289-1:2020-08 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie określono dwie metody badania niskonapięciowego w celu wykrycia i umiejscowienia wad, które pojawiają się na powłokach z emalii szklistych i porcelanowych, i które wnikają w głąb podłoża metalowego.
Metodę A (elektryczną) stosuje się do szybkiego wykrywania i orientacyjnego umiejscowienia wad. Metoda B (optyczną), opartą na efekcie barwnym, stosuje się do bardziej precyzyjnego wykrywania wad i ich dokładnego umiejscowienia. Obie metody są powszechnie stosowane do powierzchni płaskich. Do bardziej skomplikowanych kształtów, takich jak powierzchnie bruzdowe i/lub faliste, stosuje się ISO 8289-2.
UWAGA 1 Wybór odpowiedniej metody badania ma znaczenie dla odróżnienia powierzchni o wzrastającym przewodnictwie, oznaczanej metodą B, od faktycznych porów znajdujących się w podłożu metalowym, które mogą być wykrywane obydwiema metodami.
UWAGA 2 Badanie niskonapięciowe jest nieniszczącą metodą wykrywania wad i dlatego jest całkowicie różne od badania wysokonapięciowego określonego w ISO 2746. Wyniki badania wysokonapięciowego i niskonapięciowego są nieporównywalne i będą się różniły.